[发明专利]卡件测量系统

说明书

技术领域

本发明涉及工业控制领域，尤其涉及一种卡件测量系统。

背景技术

目前卡件的各个通道是通过MKDS1.5/2-5.08端子和外部测试信号连接。由于一个卡件上面就有16～32个通道，如果使用现有技术中的卡件测量辅助装置进行测量，就需要采用传统的接线方式连接，即把信号线伸入到接线端子内，用螺丝刀拧紧。测试完成后，再把信号线取出。这个过程花费大量的时间，给测试人员带来极大的不便。不利于批量检测卡件。

发明内容

本发明提供一种卡件测量系统，要解决的技术问题是如何方便快捷地对卡件进行测量。

为解决上述技术问题，本发明提供了如下技术方案：

一种卡件测量系统，包括一控制装置，与工控机和卡件测量辅助装置相连，其中所述控制装置包括：

输入设备，用于接收卡件类型信息和要测量的通道信息；

第一处理器，与所述输入设备相连，用于根据得到卡件类型信息和要测量的通道信息，生成控制指令；

输出设备，与所述处理器和卡件测量辅助装置相连，用于向所述卡件测量辅助装置发送所述控制指令；

所述卡件测量辅助装置，包括：

接收器，用于接收所述输出设备发送的控制指令；

第二处理器，与所述接收器相连，用于执行所述控制指令。

优选的，所述系统还具有如下特点：所述控制装置内置于工控机内部，且所述控制装置通过所述工控机的串口线与所述卡件测量辅助装置相连。

优选的，所述系统还具有如下特点：所述卡件测量辅助装置，包括：

存储器，用于存储两次通道切换之间的时间差；

定时器，用于在每次通道切换完成后开始计时；

第三处理器，与所述存储器和所述定时器相连，用于在定时器记录的时间为存储器记录的时间差时，发起通道切换流程。

优选的，所述系统还具有如下特点：所述卡件测量辅助装置，还包括：

输入端口，用于接收外部对存储器所存储的时间差的更新信息；

第四处理器，与所述输入端口和所述存储器相连，用于根据所述更新信息，得到新的时间差，并将其保存到存储器中。

与现有技术相比，通过于主控机相连的控制装置来下发控制指令，卡件辅助装置根据上述控制指令进行自动操作，使得测试人员无需手动操作该卡件，从而使得测试人员无需现场操控卡件测量辅助装置，达到了方便快捷测量卡件的目的。

附图说明

图1为本发明提供的卡件测量系统的结构示意图；

图2为本发明提供的卡件测量系统中卡件测试装置的结构示意图；

图3为图2所示卡件测试装置的另一结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例对本发明作进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

在测量卡件时，卡件测量辅助装置需要和卡件连接在一起，卡件安装在现场设备的机柜上，卡件测量的结果则是通过总线传输后显示在工控机的DCS系统软件上。一般情况下，工控机和现场设备的机柜不是放置在同一个地方。导致了测试人员不能同时进行控制测量通道和观察测量结果。

图1为本发明提供的卡件测量系统中控制装置的结构示意图。本发明提供一种卡件测量系统，包括一控制装置，与工控机和卡件测量辅助装置相连，其中所述控制装置包括：

输入设备101，用于接收外部输入的卡件类型信息和要测量的通道信息；

第一处理器102，与所述输入设备101相连，用于根据得到卡件类型信息和要测量的通道信息，生成控制指令；

输出设备103，与所述处理器102和卡件测量辅助装置相连，用于向所述卡件测量辅助装置发送所述控制指令；

所述卡件测量辅助装置，包括：

接收器104，用于接收所述输出设备发送的控制指令；

第二处理器105，与所述接收器相连，用于执行所述控制指令。

具体来说，采用了MFC的编程方式开发了卡件测量辅助装置的控制装置，同时所述控制装置内置于工控机内部，且所述控制装置通过所述工控机的串口线与所述卡件测量辅助装置相连。

当然，现有技术中还存在如下问题：

在使用传统的卡件测量辅助装置时，通过按键来切换测试通道。按一下按键，通道号加一后者减一。但是卡件的通道数一般为16～32个。也就是说每测一个卡件就需要按16～32次按键。这给测试人员带来了不必要的工作量。