[发明专利]一种可调式BGA植珠装置无效
申请号: | 201110379893.1 | 申请日: | 2011-11-25 |
公开(公告)号: | CN103137518A | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
发明(设计)人: | 董焕萍 | 申请(专利权)人: | 陕西子竹电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/60 |
代理公司: | 西安创知专利事务所 61213 | 代理人: | 李子安 |
地址: | 710075 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 调式 bga 装置 | ||
技术领域
本发明属于BGA返修台控制系统技术领域,尤其是涉及一种可调式BGA植珠装置。
背景技术
随着科技产品功能的日趋强大,IC封装的接脚数越来越多,缩小IC尺寸的要求变得更为迫切,自动化程度和成品率要求也在提高。传统的表面封装技术已无法满足这些要求,球栅阵列封装(BGA)技术正成为新的IC封装主流。BGA是一种表面安装IC的新封装形式,其引出端以矩阵状分布在封装体的底面。虽然I/O引脚数增多,但其引脚间距并没有减少,且远大于传统封装形式,从而提高了组装成品率。因此,BGA技术逐渐成为高密度、高性能、多功能和高I/O引脚数的大规模集成电路封装的最佳选择。
我国内地在半导体封装领域的研究始于20世纪80年代,但用于半导体生产的设备与世界先进水平仍有很大差距。在BGA芯片需求不断增长的情况下,国内半导体封装设备市场需要开发一种新的、能满足BGA封装要求的自动化封装技术。
现有技术中的BGA植珠装置因结构设计不合理,所以使用操作不方便。
发明内容
本发明的目的在于克服上述现有技术中的不足,提供一种可调式BGA植珠装置,其结构简单、设计合理且使用操作简便,只要通过手动调节可调节式BGA芯片固定架上的旋钮,就可以改变芯片卡槽之间的大小调节,同时使用范围广,制作使用成本低。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:一种可调式BGA植珠装置,其特征在于:包括植珠台体以及安装在植珠台体上的可调节式BGA芯片固定架和与植珠台体配合使用的植珠钢网模板,所述可调节式BGA芯片固定架包括丝杆、螺母块和用于支撑螺母块滑动的滑轨,所述丝杆的端部设置有旋钮,所述丝杆上且位于螺母块的左侧设置有第一螺纹,所述丝杆上且位于螺母块右侧设置有第二螺纹,所述第一螺纹和第二螺纹旋向相反。
上述的一种可调式BGA植珠装置,其特征在于:所述植珠钢网模板包括模板体,所述模板体上设置有螺纹孔,所述模板体中心设置有BGA钢板。
上述的一种可调式BGA植珠装置,其特征在于:所述螺母块上设置有用于固定BGA芯片的芯片卡槽。
上述的一种可调式BGA植珠装置,其特征在于:所述植珠台体上设置有倒珠槽。
上述的一种可调式BGA植珠装置,其特征在于:所述植珠台体上有紧固螺钉。
上述的一种可调式BGA植珠装置,其特征在于:所述紧固螺钉和螺纹孔的数量相等且均为四个。
本发明与现有技术相比具有以下优点:
1、结构简单,设计合理。
2、使用操作简便,本发明只要通过手动调节可调节式BGA芯片固定架上的旋钮,就可以改变芯片卡槽之间的大小调节;不需要光学定位系统,人眼就可直接确定BGA芯片焊盘与锡珠的定位。
3、使用范围广,本发明的植珠台体和不同植珠钢网模板配合使用,可对应尺寸大小不同BGA植球,生产率高。
4、制作使用成本低,本发明可采用合金铝架构,结构轻巧耐用。
下面通过附图和实施例,对本发明做进一步的详细描述。
附图说明
图1为本发明的整体结构示意图。
图2为本发明植珠钢网模板的结构示意图。
附图标记说明:
1-紧固螺钉; 2-1-第一螺纹; 2-2-第二螺纹;
3-丝杆; 4-旋钮; 5-芯片卡槽;
6-倒珠槽; 7-滑轨; 8-螺母块;
9-植珠台体; 10-螺纹孔; 11-BGA钢板。
具体实施方式
如图1和图2所示,本发明包括植珠台体9以及安装在植珠台体9上的可调节式BGA芯片固定架和与植珠台体9配合使用的植珠钢网模板,所述可调节式BGA芯片固定架包括丝杆3、螺母块8和用于支撑螺母块8滑动的滑轨7,所述丝杆3的端部设置有旋钮4,所述丝杆3上且位于螺母块8的左侧设置有第一螺纹2-1,所述丝杆3上且位于螺母块8右侧设置有第二螺纹2-2,所述第一螺纹2-1和第二螺纹2-2旋向相反。
如图2所示,所述植珠钢网模板包括模板体,所述模板体上设置有螺纹孔10,所述模板体中心设置有BGA钢板11。
如图1所示,所述螺母块8上设置有用于固定BGA芯片的芯片卡槽5。
如图1所示,所述植珠台体9上设置有倒珠槽6,当植珠完成后可将多余的锡珠倒出去。
如图1所示,所述植珠台体9上有紧固螺钉1。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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