[发明专利]一种制备超细线条的方法无效

专利信息
申请号: 201110375066.5 申请日: 2011-11-23
公开(公告)号: CN102509698A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 黄如;孙帅;艾玉杰;樊捷闻;王润声;许晓燕 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01L21/306
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 代理人: 贾晓玲
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 制备 细线 方法
【权利要求书】:

1.一种制备GaN基脊型激光器的方法,具体包括以下步骤:

1)在衬底上制备氧化工艺阻挡层;

2)干法刻蚀衬底材料,得到初始线条,去掉光刻胶,对氧化硅掩膜线条进行trimming,得到尺寸更小的线条;

3)对线条进行湿法氧化,将线条顶端掩膜通过湿法腐蚀去掉,得到悬空的硅纳米线。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤1)具体包括:

a、在衬底上淀积氧化硅薄膜;

b、沉积氮化硅薄膜

c、在氮化硅薄膜上涂光刻胶,光刻定义出将要作为硅线条硬掩膜的区域;

d、干法刻蚀工艺将光刻胶上的图形转移到氧化硅、氮化硅薄膜上。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述步骤3)具体包括:

a、将步骤2)得到线条进行湿法氧化;

b、通过湿法腐蚀工艺去除包围纳米线条顶部的氮化硅掩膜;

c、通过湿法腐蚀工艺去除包围纳米线条的氧化层。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述淀积氧化硅、氮化硅采用低压化学气相沉积法,定义光刻胶采用的是普通光学光刻,刻蚀氧化硅、氮化硅和衬底材料采用的是异性干法刻蚀技术。

5.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述trimming氧化硅掩膜采用BHF溶液。

6.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述湿法腐蚀氮化硅掩膜采用加热的浓磷酸,湿法腐蚀氧化层采用氟化氢溶液。

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