[发明专利]测试系统及测试方法无效

专利信息
申请号: 201110374594.9 申请日: 2011-11-22
公开(公告)号: CN102402482A 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 柴宁 申请(专利权)人: 北京星网锐捷网络技术有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘芳
地址: 100036 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 测试 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及仿真测试技术,尤其涉及一种测试系统及测试方法,属于无线通信技术领域。

背景技术

现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)是一种集成度很高的新型高性能可编程芯片,其内部电路功能是可编程的,可以通过硬件描述语言(Hardware Description Language,HDL)和专用设计工具,在其内部灵活地实现极其复杂的电路功能,适用于高速、高密度的高端数字逻辑电路设计领域。外部设备互联标准(Peripheral Component Interconnect,PCI)总线是一种不依附于某个具体处理器的局部总线。从结构上看,PCI是在CPU和原来的系统总线之间插入的一级总线,具体由一个桥接电路实现对这一层的管理,并实现上下之间的接口以协调数据的传送。管理器提供了信号缓冲,使之能支持10种外设,并能在高时钟频率下保持高性能。PCI总线也支持总线主控技术,允许智能设备在需要时取得总线控制权,以加速数据传送,由于PCI总线可提供的优良特性,PCI接口已成为目前个人计算机中使用最为广泛的接口。随着PCI接口的广泛应用和FPGA技术的快速发展,越来越多的FPGA生产厂商开始研制基于PCI接口的FPGA设备,即将PCI用户逻辑和PCI核逻辑(PCI ipcore)集成到FPGA内部,以进一步提高FPGA的性能。

FPGA的仿真测试是FPGA开发极为重要的组成部分,针对这种基于PCI接口的FPGA设备,现有技术中通常是由一些主流的FPGA生产厂商针对其提供的PCI核逻辑配套提供配套的仿真模型,这种仿真模型仅适用于相应的PCI核逻辑测试,通用性差,并且仅能进行正常的数据流疏通测试。另外,虽然PCI核逻辑的设计者可根据项目应用的不同自行搭建PCI测试模型,但也仅是针对具体的逻辑实现部分进行有针对性的仿真,所以搭建的模型针对性强,也不具备通用性,并且这些仿真模型都无法实现对FPGA设备的全面、有效测试。

发明内容

针对上述缺陷,本发明提供一种测试系统及测试方法,用于实现对通用地、对具备PCI接口的FPGA设备进行全面、有效的测试。

根据本发明的一方面,提供一种测试系统,包括:

PCI仲裁模拟模块,用于完成第一测试状态与第二测试状态的切换;

PCI主设备模拟模块,用于在所述第一测试状态下,接收激励文件,根据所述激励文件生成第一PCI总线操作指令,并将所述第一PCI总线操作指令发送至待测设备,以使所述待测设备接收所述第一PCI总线操作指令并响应;

PCI从设备模拟模块,用于在所述第二测试状态下,接收所述待测设备发送的第二PCI总线操作指令,并根据预设的模拟时序响应所述第二PCI总线操作指令;

监测模块,用于在所述第一测试状态下监测所述第一PCI总线操作指令和所述待测设备对所述第一PCI总线操作指令的响应状态,在所述第二测试状态下监测所述第二PCI总线操作指令和所述PCI从设备模拟模块对所述第二PCI总线操作指令的响应状态,生成测试结果。

根据本发明的另一方面,还提供一种测试方法,包括:

PCI主设备模拟模块在第一测试状态下,接收激励文件,根据所述激励文件生成第一PCI总线操作指令,并将所述第一PCI总线操作指令发送至待测设备,以使所述待测设备接收所述第一PCI总线操作指令并响应;

PCI仲裁模拟模块完成所述第一测试状态与第二测试状态的切换;

PCI从设备模拟模块在所述第二测试状态下,接收所述待测设备发送的第二PCI总线操作指令,并根据预设的模拟时序响应所述第二PCI总线操作指令;

监测模块在所述第一测试状态下监测所述第一PCI总线操作指令和所述待测设备对所述第一PCI总线操作指令的响应状态,在所述第二测试状态下监测所述第二PCI总线操作指令和所述PCI从设备模拟模块对所述第二PCI总线操作指令的响应状态,生成测试结果。

根据本发明的测试系统及测试方法,通过PCI主设备模拟模块和PCI从设备模拟模块实现了PCI总线的模拟,从而在对待测设备进行测试时,通过将待测设备利用PCI接口接入模拟PCI总线,并利用PCI仲裁模拟模块对接入该模拟PCI总线的设备进行仲裁,即可实现对待测设备接入真实PCI总线环境时性能的全面测试,适用于任意具有PCI接口的待测设备。

附图说明

图1为本发明测试系统的系统架构图。

图2为利用本发明测试系统对待测设备进行测试的示意图。

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