[发明专利]电气参数测试装置无效
申请号: | 201110370981.5 | 申请日: | 2011-11-21 |
公开(公告)号: | CN103123373A | 公开(公告)日: | 2013-05-29 |
发明(设计)人: | 潘亚军;罗奇艳;陈鹏;童松林 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R21/133 | 分类号: | G01R21/133;G01R19/25;G01R29/18 |
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地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电气 参数 测试 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种电气参数测试装置。
背景技术
目前,外设部件互连标准(peripheral component interconnect,PCI)插槽通常包含多个电源引脚,用以输出不同的电压,以分别满足不同的PCI设备(例如声卡、网卡等)的供电需求。然而,由于PCI插槽的结构原因,使得大多数现有PCI插槽的多个电源引脚并非同时供电。如此,当一些特定的PCI设备插接在PCI插槽上时,可能因为该多个电压输出时序不同的原因而无法正常工作,且难以查明具体故障处于哪个引脚上。
发明内容
鉴于上述内容,有必要提供一种可快速、准确地对输入至PCI设备的电压的时序进行测试的电气参数测试装置。
一种电气参数测试装置,应用于一外设部件互连标准设备,所述外设部件互连标准设备通过该电气参数测试装置连接至一外设部件互连标准插槽,所述外设部件互连标准插槽包括第一电源引脚、第二电源引脚及第三电源引脚,分别用于输出不同的电压至所述外设部件互连标准设备;所述电气参数测试装置包括时序测试模块及单片机,该时序测试模块包括第一比较芯片、第二比较芯片、第一测试引脚、第二测试引脚及第三测试引脚,该第一比较芯片及第二比较芯片均包括电源引脚、一组负输入引脚、一组正输入引脚及一组输出引脚,该电源引脚连接至一供电电源,该第一比较芯片的负输入引脚及该第二比较芯片的其中一负输入引脚均连接至一参考电压,该第一比较芯片的正输入引脚分别连接至第一电源引脚及第二电源引脚,所述第二比较芯片的其中一正输入引脚连接至所述第三电源引脚,所述第一比较芯片的输出引脚分别连接至所述第一及第二测试引脚,所述第二比较芯片的其中一输出引脚连接至所述第三测试引脚,所述第一至第三测试引脚均连接至所述单片机,所述单片机用以接收来自所述第一至第三测试引脚的测试信号,并对所述测试信号进行处理,进而获得所述第一至第三电源引脚输入至所述外设部件互连标准设备的电压的时序。
上述电气参数测试装置通过设置该时序测试模块,从而可实现方便、快捷地对该第一至第三电源引脚输入至所述外设部件互连标准设备的电压的时序进行测试。若是外设部件互连标准设备因供电时序问题而无法正常工作,则可以方便地查明故障原因。
附图说明
图1为本发明较佳实施方式的电气参数测试装置的功能框图。
图2为图1所示电气参数测试装置中第一测试模块的电路图。
图3为图1所示电气参数测试装置中第二测试模块的功能框图。
主要元件符号说明
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