[发明专利]间歇表面测量

权利要求书

1.一种确定装在罐(24)中的产品(22)的料位的方法，所述方法包括以下步骤：

a)向所述产品的表面(38)的目标区域(36)发射电磁探测信号；

b)接收作为所述电磁探测信号在所述表面处的反射的反射探测信号；

c)确定表示所述反射探测信号的幅度的参数值；

如果所述参数值表示大于预定阈值的幅度，则：

d)向所述表面的所述目标区域(36)发射电磁测量信号；

e)接收作为所述电磁测量信号在所述表面处的反射的返回信号；以及

f)基于所述电磁测量信号与所述返回信号之间的时间关系确定所述料位。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，如果在步骤c)中确定的所述参数值表示小于或等于所述预定阈值的幅度，则所述方法返回到步骤a)。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，执行步骤d)至f)所需的时间不超过100μs。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述测量信号被形成为不同载波脉冲的脉冲列，其中每个载波脉冲具有大于1微秒的持续时间。

5.根据权利要求4所述的方法，其中步骤f)包括以下步骤：

f1)确定与所发射的每个相应不同脉冲相关地接收的每个不同脉冲的实际相位特性；

f2)基于初始估计的距离，确定与所发射的每个相应不同脉冲相关地接收的每个不同脉冲的预期相位特性；以及

f3)将所述实际相位特性与所述预期相位特性进行关联，以提供所述距离的更新估计。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述初始估计的距离通过初始距离测量来获得。

7.一种用于确定装在罐(24)中的产品(22)的料位的料位计系统(20)，所述料位计系统能够工作在探测状态和测量状态，并且包括：

雷达模块(26)，用于生成、发射以及接收电磁信号；

传播装置(28)，连接到所述雷达模块，并且被布置成向所述罐内的所述产品传播发射电磁信号，以及接收由于所述发射电磁信号在装在所述罐中的所述产品的表面处的反射而得到的反射电磁信号；以及

处理电路(44)，连接到所述雷达模块，所述处理电路包括：

操作控制电路(30)；

比较电路(32)；以及

料位确定电路(34)，

其中：

当所述料位计系统工作在所述探测状态时：

所述操作控制电路(30)控制所述雷达模块(26)发射探测信号；

所述比较电路(32)将表示所接收的反射探测信号的幅度的参数值与表示幅度阈值的预定参数值进行比较；并且

如果所述幅度大于所述幅度阈值，则所述操作控制电路(30)控制所述料位计系统转换到所述测量状态；以及

当所述雷达料位计系统工作在所述测量状态时：

所述操作控制电路(30)控制所述雷达模块发射电磁测量信号；并且

所述料位确定电路(34)基于所述发射电磁测量信号与所接收的所述发射电磁测量信号的反射之间的时间关系，确定所述料位。

8.根据权利要求7所述的料位计系统，其中，

当所述料位计系统工作在所述探测状态时：

如果所述幅度小于或等于所述预定阈值，则所述操作控制电路控制所述料位计系统保持在所述探测状态。

9.根据权利要求7或8所述的料位计系统，还包括实时采样器(55)，其中：

当所述雷达料位计系统工作在所述测量状态时：

所述实时采样器对所述所接收的所述发射电磁测量信号的反射实时地进行采样，并且将采样反射信号提供给所述料位确定电路；以及

所述料位确定电路基于所述发射电磁测量信号与所述采样反射信号之间的时间关系，确定所述料位。