[发明专利]制备氧化锌纳米线薄膜的方法

权利要求书

1.一种制备氧化锌纳米线薄膜的方法，其特征在于，包括以下工序：

a)用3-氨丙基三乙氧基硅烷对氧化锌纳米线进行表面修饰，得到经过表面修饰的氧化锌纳米线；

b)将所述经过表面修饰的氧化锌纳米线置于水中，进行超声分散，得到均匀的悬浊液；

c)将经过亲水性处理的带有二氧化硅层的硅片，置于所述悬浊液中，静置，得到所述氧化锌纳米线薄膜。

2.如权利要求1所述的制备氧化锌纳米线薄膜的方法，其特征在于，所述工序a)包括以下步骤：

a₁)将所述3-氨丙基三乙氧基硅烷加入水中，得到3-氨丙基三乙氧基硅烷的水溶液；

a₂)调节所述3-氨丙基三乙氧基硅烷的水溶液的pH值；

a₃)向所述3-氨丙基三乙氧基硅烷的水溶液中加入所述氧化锌纳米线，进行超声处理；

a₄)离心分离得到所述经过表面修饰的氧化锌纳米线。

3.如权利要求1所述的制备氧化锌纳米线薄膜的方法，其特征在于，所述步骤c)中的亲水性处理，包括以下步骤：

i)配制硫酸溶液和双氧水溶液的混合溶液；

ii)将经过清洗的所述带有二氧化硅层的硅片置于所述混合溶液中，在一定温度下煮一段时间；

iii)将所述带有二氧化硅层的硅片取出，用水清洗，并吹干。

4.如权利要求2所述的制备氧化锌纳米线薄膜的方法，其特征在于：在所述步骤a₁)中，所述3-氨丙基三乙氧基硅烷与所述水的体积比为0.0125～0.025∶1。

5.如权利要求2所述的制备氧化锌纳米线薄膜的方法，其特征在于：在所述步骤a₂)中，所述水溶液的pH值调节后为4～7。

6.如权利要求2所述的制备氧化锌纳米线薄膜的方法，其特征在于：在所述步骤a₃)中，所述氧化锌纳米线与所述3-氨丙基三乙氧基硅烷的水溶液的质量体积比为1～3mg/mL。

7.如权利要求2所述的制备氧化锌纳米线薄膜的方法，其特征在于，在所述步骤a₄)中，所述离心的转速为10000～15000rpm，时间为20～30min，次数为4～6次。

8.如权利要求1所述的制备氧化锌纳米线薄膜的方法，其特征在于，所述步骤b)中，所述经过表面修饰的氧化锌纳米线与所述水的质量体积比为0.2～0.5mg/mL。

9.如权利要求1所述的制备氧化锌纳米线薄膜的方法，其特征在于，所述步骤c)中，所述静置所用的时间为2～24h。

10.如权利要求3所述的制备氧化锌纳米线薄膜的方法，其特征在于，所述步骤i)中，所述硫酸溶液的浓度为98wt％，所述双氧水溶液的浓度为30wt％，所述硫酸溶液与所述双氧水溶液的体积比为2～3∶1；所述步骤ii)中，所述一定温度是80～100℃，所述一段时间是2～4h。