[发明专利]信号测试装置

权利要求书

1.一种信号测试装置，用于对印刷电路板上的若干测试点进行测试，该信号测试装置包括一处理单元，其特征在于，该信号测试装置还包括：

一开关模组，包括若干开关，每一开关均包括第一导通端、第二导通端以及控制端，该若干开关的第一导通端分别与该若干测试点连接；

一示波器，包括一第一输入通道以及输出通道，该开关模组的每一开关的第二导通端均通过一主信号线与该第一输入通道连接；

一控制单元，该控制单元与该若干开关的控制端均相连，用于周期性地控制该若干开关依次导通，使得示波器的第一输入通道接收到的信号为在一个周期内依次包括该若干测试点信号的周期性信号；

其中，该示波器还与该控制单元连接，用于接收控制单元产生的控制该若干开关的控制信号，该处理单元与该示波器的输出通道连接，用于获取示波器接收的主信号线传输的周期性信号以及控制单元产生的控制信号，并根据该控制信号，确定每一开关导通的各个时间段，并根据每一开关导通的各个时间段，对示波器接收的周期性信号进行采样，分别将每一开关导通的各个时间段对应的信号采样出来，从而分别将若干测试点的信号还原，并对该还原的各个测试点的信号进行测试。

2.如权利要求1所述的信号测试装置，其特征在于，该控制单元包括若干D触发器、一波形产生器以及一时脉产生器，每一D触发器均包括输入端、输出端以及时序端，其中，时脉产生器与该些D触发器的时序端均连接，用于提供时钟脉冲信号至该些D触发器；该些D触发器采用串联的结构，每一D触发器的输出端与下一D触发器的输入端相连，同时每一D触发器的输出端还与一开关的控制端相连；该波形产生器与第一个D触发器的输入端连接，用于产生触发波形至第一个D触发器的输入端。

3.如权利要求2所述的信号测试装置，其特征在于，该时脉产生器产生的时钟脉冲信号的周期与每一开关的导通时间相等，该波形产生器产生的触发波形的触发周期为开关个数与每一开关的导通时间的乘积。

4.如权利要求3所述的信号测试装置，其特征在于，该若干开关为高电平导通开关，在波形产生器产生的触发波形的一个触发周期内，每一D触发器的输出端将依次输出持续一个时钟脉冲周期的高电平，从而在波形产生器产生的触发波形的一个周期内，该若干开关将依次导通一个时钟脉冲周期的时间，从而使得该若干测试点的信号依次被传输至主信号线，进而传输至示波器的第一输入通道，使得第一输入通道的接收的信号在一个周期内依次包括测试点信号的周期性信号。

5.如权利要求3所述的信号测试装置，其特征在于，该示波器还包括第二、第三输入通道，该第二、第三输入通道分别与波形产生器以及时脉产生器连接，分别用于接收该触发波形以及该时钟脉冲信号，该处理单元根据示波器接收的触发波形以及时钟脉冲信号确定每一开关导通的各个时间段。

6.如权利要求4所述的信号测试装置，其特征在于，该若干开关为CMOS管。

7.如权利要求4所述的信号测试装置，其特征在于，该若干开关为NMOS管或0NPN三极管。