[发明专利]一种手机壳体用镁合金薄带的制备方法无效

专利信息
申请号: 201110341938.6 申请日: 2011-11-02
公开(公告)号: CN102430573A 公开(公告)日: 2012-05-02
发明(设计)人: 沈敬栋 申请(专利权)人: 江苏昊达有限责任公司
主分类号: B21B1/30 分类号: B21B1/30;B21B37/74
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 宋松
地址: 214183 江苏省无锡市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 机壳 体用 镁合金 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种手机壳体用镁合金薄带的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括如下步骤:

1)合金熔炼:本发明所采用的镁合金为AZ31B,按设定成分进行配料,在SF6和N2的混合气体保护下加热到熔化温度,强烈搅拌之后,进行除气、精炼处理,然后静置15-20分钟;

2)铸轧:调整熔体温度至650-660℃,采用双辊铸轧机,将铸辊预热到100-120℃,调节铸轧速率为5-8m/min,进行铸轧,得到2-3mm的铸坯;

3)均匀化退火:退火温度为420-440℃,退火时间为3-5小时;

4)温轧:将铸轧后的铸坯加热到260-280℃,进行温轧,道次压下量控制在12-15%,轧制2道次后进行一次中间退火,中间退火温度320-340℃,退火时间2-3小时;直至轧制成品厚度0.6-0.8mm;

5)成品退火:退火温度380-400℃,退火时间为2.5-3小时。

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