[发明专利]欠压-过压保护装置及方法有效
申请号: | 201110336097.X | 申请日: | 2011-10-28 |
公开(公告)号: | CN103094877A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 熊焘;包章尧;黄琦 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | H02H3/24 | 分类号: | H02H3/24;H02H3/20;G01R19/165 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 李慧 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 保护装置 方法 | ||
1.一种欠压-过压保护装置(200,300),包括:
检测装置(210),连接在交流供电线路上,用于在检测到交流供电线路上的电压高于第一预定阈值时,发送过压保护触发信号;
单个脱扣线圈(230),与一个电子开关(220)串联连接在所述交流供电线路上,用于在其两端电压低于第二预定阈值时,执行脱扣动作,从而使得所述交流供电线路上的供电中断;
其中,所述电子开关(220)在交流供电线路供电时处于导通状态,且响应于所述过压保护触发信号而关断,从而使得所述脱扣线圈(230)因其两端电压低于所述第二预定阈值而执行脱扣动作。
2.如权利要求1所述的欠压-过压保护装置,其中,所述电子开关(220)为能够导通交流电流的电子开关,其响应于所述过压保护触发信号而关断,否则导通。
3.如权利要求2所述的欠压-过压保护装置,其中,所述电子开关(220)包括可控硅、晶体管、场效应管、光耦和继电器中任一。
4.如权利要求3所述的欠压-过压保护装置,所述电子开关(220)为双向可控硅。
5.如权利要求2所述的欠压-过压保护装置,还包括自启动电路(340),用于为所述电子开关(220)提供开启电压,所述开启电压从所述交流供电线路上获得。
6.如权利要求2所述的欠压-过压保护装置,其中,所述检测装置(210)包括:
过压检测电路(320),用于在检测到所述交流供电线路上的电压高于所述第一预定阈值时输出第一控制电压;
信号生成电路(330),用于根据所述第一控制电压生成用于关断所述电子开关(220)的过压保护触发信号。
7.如权利要求6所述的欠压-过压保护装置,其中,所述信号生成电路(330)包括隔离元件,用于以电隔离方式根据所述第一控制电压生成所述过压保护触发信号。
8.如权利要求7所述的欠压-过压保护装置,其中,所述隔离元件包括第一光耦元件(U4)和第二光耦元件(U3),其中第一光耦元件(U4)连接成响应于所述第一控制电压而在交流供电线路上的电压为正向时使得所述电子开关(220)的控制端为失效电平,第二光耦元件(U3)连接成响应于所述第一控制电压而在交流供电线路上的电压为反向时使得所述电子开关(220)的控制端为失效电平。
9.如权利要求8所述的欠压-过压保护装置,其中,
第一控制电压被施加到所述第一光耦元件(U4)和第二光耦元件(U3)输入侧的发光二极管上;
所述第一光耦元件(U4)中光敏三极管的发射极与第二光耦元件(U3)中光敏三极管的集电极连接至所述交流供电线路的零线;
所述第一光耦元件(U4)中光敏三极管的集电极与第二光耦元件(U3)中光敏三极管的发射极连接至所述电子开关(220)的可控端(A)。
10.如权利要求6所述的欠压-过压保护装置,其中,所述过压检测电路(320)包括单片机或电压检测芯片中任一。
11.一种进行欠压-过压保护的方法,包括:
当交流供电线路开始供电时,使得与单个脱扣线圈串联的电子开关导通;
当所述交流供电线路上的电压低于一个阈值时,所述脱扣线圈因欠压而执行脱扣动作;
当检测到所述交流供电线路上的电压高于另一个阈值时,使得所述电子开关断开,从而使得所述脱扣线圈因欠压而执行脱扣动作。
12.如权利要求11所述的方法,其中,使用双向可控硅作为所述电子开关。
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