[发明专利]感光二极管及其制作方法有效
| 申请号: | 201110335255.X | 申请日: | 2011-10-28 |
| 公开(公告)号: | CN102339845B | 公开(公告)日: | 2016-11-30 |
| 发明(设计)人: | 吴小利 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L31/0352;H01L31/103 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
| 地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 感光 二极管 及其 制作方法 | ||
1.一种感光二极管的制作方法,包括:
提供半导体衬底,所述半导体衬底内形成有阱区,所述阱区内形成有第一掺杂区;
在所述第一掺杂区表面形成栅极结构;
在所述栅极结构一侧的阱区内形成感光二极管的深掺杂区;
形成位于所述栅极结构两侧的侧墙;
以栅极结构和侧墙为掩膜,向深掺杂区内注入离子,形成浅掺杂区;
其特征在于,在形成深掺杂区之后,侧墙之前,还包括:以栅极结构为掩膜,进行离子注入,在深掺杂区内形成离子注入区,所述离子注入区的深度小于深掺杂区的深度,离子注入区的掺杂类型与第一掺杂区的掺杂类型相同。
2.如权利要求1所述的感光二极管的制作方法,其特征在于,所述形成离子注入区离子注入的剂量范围为2~4E12/cm2,能量范围为20~40KeV。
3.如权利要求1所述的感光二极管的制作方法,其特征在于,所述离子注入区的掺杂类型为P型。
4.如权利要求1所述的感光二极管的制作方法,其特征在于,所述形成浅掺杂区离子注入的剂量范围为1~3E13/cm2,能量范围为20~40KeV。
5.如权利要求1所述的感光二极管的制作方法,其特征在于,所述阱区和第一掺杂区掺杂类型均为P型。
6.如权利要求1所述的感光二极管的制作方法,其特征在于,所述在半导体衬底内的形成阱区之后,还包括,在阱区内形成隔离结构。
7.如权利要求1所述的感光二极管的制作方法,其特征在于,所述栅极结构包括栅介质层和位于栅介质层上的栅极。
8.如权利要求1所述的感光二极管的制作方法,其特征在于,所述栅极结构相对感光二极管一侧的阱区内形成有浮置扩散区。
9.一种感光二极管,包括:
半导体衬底;
位于半导体衬底内的阱区,位于阱区内的第一掺杂区;
位于第一掺杂区表面的栅极结构;
位于栅极结构一侧阱区内感光二极管的深掺杂区;
位于栅极结构两侧的侧墙;
位于栅极结构、侧墙一侧深掺杂区内的浅掺杂区;
其特征在于,还包括,位于深掺杂区内的离子注入区,所述离子注入区部分位于侧墙下方,所述离子注入区的深度小于深掺杂区的深度,离子注入区的掺杂类型与第一掺杂区的掺杂类型相同。
10.如权利要求9所述的感光二极管,其特征在于,所述离子注入区的掺杂类型为P型。
11.如权利要求9所述的感光二极管,其特征在于,所述阱区和第一掺杂区掺杂类型均为P型。
12.如权利要求9所述的感光二极管,其特征在于,所述栅极结构包括栅介质层和位于栅介质层上的栅极。
13.如权利要求9所述的感光二极管,其特征在于,所述栅极结构相对感光二极管一侧的阱区内形成有浮置扩散区。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





