[发明专利]感光二极管及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201110335255.X 申请日: 2011-10-28
公开(公告)号: CN102339845B 公开(公告)日: 2016-11-30
发明(设计)人: 吴小利 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L31/0352;H01L31/103
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 感光 二极管 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种感光二极管的制作方法,包括:

提供半导体衬底,所述半导体衬底内形成有阱区,所述阱区内形成有第一掺杂区;

在所述第一掺杂区表面形成栅极结构;

在所述栅极结构一侧的阱区内形成感光二极管的深掺杂区;

形成位于所述栅极结构两侧的侧墙;

以栅极结构和侧墙为掩膜,向深掺杂区内注入离子,形成浅掺杂区;

其特征在于,在形成深掺杂区之后,侧墙之前,还包括:以栅极结构为掩膜,进行离子注入,在深掺杂区内形成离子注入区,所述离子注入区的深度小于深掺杂区的深度,离子注入区的掺杂类型与第一掺杂区的掺杂类型相同。

2.如权利要求1所述的感光二极管的制作方法,其特征在于,所述形成离子注入区离子注入的剂量范围为2~4E12/cm2,能量范围为20~40KeV。

3.如权利要求1所述的感光二极管的制作方法,其特征在于,所述离子注入区的掺杂类型为P型。

4.如权利要求1所述的感光二极管的制作方法,其特征在于,所述形成浅掺杂区离子注入的剂量范围为1~3E13/cm2,能量范围为20~40KeV。

5.如权利要求1所述的感光二极管的制作方法,其特征在于,所述阱区和第一掺杂区掺杂类型均为P型。

6.如权利要求1所述的感光二极管的制作方法,其特征在于,所述在半导体衬底内的形成阱区之后,还包括,在阱区内形成隔离结构。

7.如权利要求1所述的感光二极管的制作方法,其特征在于,所述栅极结构包括栅介质层和位于栅介质层上的栅极。

8.如权利要求1所述的感光二极管的制作方法,其特征在于,所述栅极结构相对感光二极管一侧的阱区内形成有浮置扩散区。

9.一种感光二极管,包括:

半导体衬底;

位于半导体衬底内的阱区,位于阱区内的第一掺杂区;

位于第一掺杂区表面的栅极结构;

位于栅极结构一侧阱区内感光二极管的深掺杂区;

位于栅极结构两侧的侧墙;

位于栅极结构、侧墙一侧深掺杂区内的浅掺杂区;

其特征在于,还包括,位于深掺杂区内的离子注入区,所述离子注入区部分位于侧墙下方,所述离子注入区的深度小于深掺杂区的深度,离子注入区的掺杂类型与第一掺杂区的掺杂类型相同。

10.如权利要求9所述的感光二极管,其特征在于,所述离子注入区的掺杂类型为P型。

11.如权利要求9所述的感光二极管,其特征在于,所述阱区和第一掺杂区掺杂类型均为P型。

12.如权利要求9所述的感光二极管,其特征在于,所述栅极结构包括栅介质层和位于栅介质层上的栅极。

13.如权利要求9所述的感光二极管,其特征在于,所述栅极结构相对感光二极管一侧的阱区内形成有浮置扩散区。

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