[发明专利]一种立方氮化硼压电薄膜声表面波器件及其制备方法无效
| 申请号: | 201110331789.5 | 申请日: | 2011-10-27 |
| 公开(公告)号: | CN102437831A | 公开(公告)日: | 2012-05-02 |
| 发明(设计)人: | 陈希明;孙连婕;薛玉明;郭燕;阴聚乾;张倩 | 申请(专利权)人: | 天津理工大学 |
| 主分类号: | H03H9/145 | 分类号: | H03H9/145;H03H3/08 |
| 代理公司: | 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 | 代理人: | 侯力 |
| 地址: | 300384 天津市南*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 立方 氮化 压电 薄膜 表面波 器件 及其 制备 方法 | ||
1.一种立方氮化硼压电薄膜声表面波器件,其特征在于:为IDT/c-BN/Al/金刚石多层膜结构,由金刚石衬底、中间层纳米铝膜和在纳米铝膜表面形成的一层纳米立方氮化硼c-BN压电薄膜组成。
2.根据权利要求1所述立方氮化硼压电薄膜声表面波器件,其特征在于:所述的中间层纳米铝膜的晶粒线度为40-60nm、膜厚为0.1-0.2μm;所述纳米立方氮化硼c-BN膜的晶粒线度为50-100nm、膜厚为0.8-0.9μm。
3.一种如权利要求1所述立方氮化硼压电薄膜声表面波器件的制备方法,其特征在于包括如下步骤:
1)采用直流磁控溅射法在纳米CVD金刚石衬底表面沉积纳米Al膜;
2)采用射频磁控溅射法在纳米Al膜表面沉积纳米立方氮化硼c-BN薄膜;
3)在纳米立方氮化硼c-BN薄膜表面制备叉指换能器IDT。
4.根据权利要求3所述立方氮化硼压电薄膜声表面波器件的制备方法,其特征在于:所述在金刚石表面沉积纳米Al膜的直流磁控溅射法的工艺参数为:本底真空度为3.3×10-4Pa、衬底转台旋转速度为20转/分钟、衬底温度为室温、溅射功率为50w、氩气流量为20sccm、工作压强为1.0Pa、靶基距为6.5cm、沉积时间为12分钟。
5.根据权利要求3所述立方氮化硼压电薄膜声表面波器件的制备方法,其特征在于:所述在纳米铝膜表面沉积纳米立方氮化硼c-BN薄膜的射频磁控溅射法的工艺参数为:本底真空度小于3.3×10-4Pa、衬底旋转台转速20转/分钟、衬底温度500℃、射频功率300W、氮气与氩气流量比为2∶18、工作压强0.8Pa、溅射靶与衬底之间的靶距6cm、衬底负偏压为-200V、沉积时间2-3小时。
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