[发明专利]发光元件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201110330881.X 申请日: 2008-09-19
公开(公告)号: CN102324454A 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 欧震;徐宸科;庄家铭 申请(专利权)人: 晶元光电股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/62
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 邱军
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 发光 元件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种发光元件的制造方法,包含:

提供基板;

形成半导体叠层于该基板上方,该半导体叠层包含p型半导体层、n型半导体层、及位于该p型半导体层与该n型半导体层间的发光层;

形成晶种层于该p型半导体层与该n型半导体层中至少其中之一的上方;以及

形成化镀层于该晶种层上方,该化镀层上表面的粗糙度小于该半导体叠层上表面的粗糙度。

2.如权利要求1所述的发光元件的制造方法:

其中形成该晶种层之方法包括物理镀膜法,以及形成该化镀层之方法包括化学镀膜法。

3.如权利要求2所述的发光元件,其中该物理镀膜法包括热蒸镀法、电子束蒸镀及离子溅镀法;以及其中该化学镀膜法包括电镀法或无电电镀法。

4.如权利要求1所述的发光元件的制造方法,其中还包括粗化该半导体叠层、该晶种层或该化镀层其中至少一层的上表面,其中该粗化结构可利用外延或化学蚀刻方式形成。

5.一种发光元件,包含:

基板;

半导体叠层,位于该基板之上,其中该半导体叠层包含p型半导体层、n型半导体层、及位于该p型半导体层与该n型半导体层间的发光层;以及

焊垫,位于该p型半导体层与该n型半导体层中至少其中之一的上方,其中该焊垫包含晶种层与化镀层,且该化镀层上表面的粗糙度小于该半导体叠层上表面的粗糙度。

6.如权利要求5所述的发光元件,其中该晶种层的厚度为该化镀层的厚度为0.5μm~3μm。

7.如权利要求5所述的发光元件,其中该晶种层或该化镀层的材料为金、铜、镍或铝。

8.如权利要求5所述的发光元件,其中该晶种层或该化镀层为多层结构。

9.如权利要求5所述的发光元件,其中该晶种层的面积与该化镀层的面积不同。

10.如权利要求5所述的发光元件,其中该半导体叠层、该晶种层或该化镀层其中至少一层的上表面为粗化结构。

11.如权利要求5所述的发光元件,其中该晶种层的上表面粗糙度小于该半导体叠层上表面的粗糙度。

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