[发明专利]发光元件及其制造方法有效
| 申请号: | 201110330881.X | 申请日: | 2008-09-19 |
| 公开(公告)号: | CN102324454A | 公开(公告)日: | 2012-01-18 |
| 发明(设计)人: | 欧震;徐宸科;庄家铭 | 申请(专利权)人: | 晶元光电股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/62 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邱军 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 发光 元件 及其 制造 方法 | ||
1.一种发光元件的制造方法,包含:
提供基板;
形成半导体叠层于该基板上方,该半导体叠层包含p型半导体层、n型半导体层、及位于该p型半导体层与该n型半导体层间的发光层;
形成晶种层于该p型半导体层与该n型半导体层中至少其中之一的上方;以及
形成化镀层于该晶种层上方,该化镀层上表面的粗糙度小于该半导体叠层上表面的粗糙度。
2.如权利要求1所述的发光元件的制造方法:
其中形成该晶种层之方法包括物理镀膜法,以及形成该化镀层之方法包括化学镀膜法。
3.如权利要求2所述的发光元件,其中该物理镀膜法包括热蒸镀法、电子束蒸镀及离子溅镀法;以及其中该化学镀膜法包括电镀法或无电电镀法。
4.如权利要求1所述的发光元件的制造方法,其中还包括粗化该半导体叠层、该晶种层或该化镀层其中至少一层的上表面,其中该粗化结构可利用外延或化学蚀刻方式形成。
5.一种发光元件,包含:
基板;
半导体叠层,位于该基板之上,其中该半导体叠层包含p型半导体层、n型半导体层、及位于该p型半导体层与该n型半导体层间的发光层;以及
焊垫,位于该p型半导体层与该n型半导体层中至少其中之一的上方,其中该焊垫包含晶种层与化镀层,且该化镀层上表面的粗糙度小于该半导体叠层上表面的粗糙度。
6.如权利要求5所述的发光元件,其中该晶种层的厚度为该化镀层的厚度为0.5μm~3μm。
7.如权利要求5所述的发光元件,其中该晶种层或该化镀层的材料为金、铜、镍或铝。
8.如权利要求5所述的发光元件,其中该晶种层或该化镀层为多层结构。
9.如权利要求5所述的发光元件,其中该晶种层的面积与该化镀层的面积不同。
10.如权利要求5所述的发光元件,其中该半导体叠层、该晶种层或该化镀层其中至少一层的上表面为粗化结构。
11.如权利要求5所述的发光元件,其中该晶种层的上表面粗糙度小于该半导体叠层上表面的粗糙度。
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