[发明专利]电子标签性能测试方法有效
申请号: | 201110325457.6 | 申请日: | 2011-10-24 |
公开(公告)号: | CN102360439A | 公开(公告)日: | 2012-02-22 |
发明(设计)人: | 赵红胜;谭杰;朱智源 | 申请(专利权)人: | 中国科学院自动化研究所 |
主分类号: | G06K17/00 | 分类号: | G06K17/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子标签 性能 测试 方法 | ||
技术领域
本发明涉及电子行业射频技术领域,尤其涉及高速运动状态下电子标 签性能测试方法。
背景技术
目前,射频标签的应用已经日益频繁,涉及到我们生活的方方面面和 各行各业,电子标签的性能测试也变得很重要。除了电子标签常规的性能 测试和一致性测试外,电子标签的应用测试,因为与电子标签的实际应用 场景有关,需要特别地考虑。例如,高速直线运动状态下的电子标签性能 测试。
以前进行电子标签直线高速测试时,需要实际修建一条直线导轨,电 子标签在出发处,按照既定速度快速弹出模拟高速运动。这种方法有两个 弊端:其一是场地需求大,对于100km/h时速的运动物体,1秒钟运行距 离为27.7米,测试时间如果是10秒,就需要场地近300米(加上始点、 终点的保护距离);其二是安全性不可靠,高度运动物体的急停会发生物 体脱离、飞溅的情况,对人员和设施造成伤害。
现有技术中出现了一种利用圆周运动模拟直线运动测试高速运动超 高频电子标签性能的方法。其目的是用户可以采用一种安全、简便的方法 测试高速运动状态下电子标签性能,避免了以前进行该类测试时的不安全 性和不简便性,使得测试更为可靠。然而,申请人意识到现有技术存在如 下技术缺陷:上述测试计算方法的准确性较差。
发明内容
(一)要解决的技术问题
为解决上述缺陷,本发明提供了一种高速运动状态下电子标签性能测 试方法,以提高采用圆周运动模拟直线运动测试高速运动超高频电子标签 性能方法中,测试计算方法的准确性较差的缺陷。
(二)技术方案
本发明提出一种电子标签性能测试方法。该方法包括:利用圆周运动 模拟直线运动测试电子标签性能;结合速度修正因子,分析直线运动时多 普勒频移对标签性能的影响。其中,速度修正因子是关于圆周运动时的圆 周半径、圆周旋转角速度,直线运动时的电子标签运动速度、读写器天线 的高度以及天线的工作范围5个因素的函数。
(三)有益效果
本发明电子标签性能测试方法具有下列有益效果:
1、能够满足在实验室范围受限的地域进行高速直线运动状态下的电 子标签性能测试,保证测试过程的安全性;
2、采用修正因子,比较Doppler频移的理论值和实际测试结果,从而 实现通过测试低速圆周运动状态下读写器对电子标签的识读率来模拟测 试直线高速运动状态下Doppler效应对电子标签识读率性能的影响。
附图说明
图1为本发明电子标签性能测试方法中电子标签高速运动,由远到近 通过读写器天线工作范围的实际应用场景说明图;
图2为本发明电子标签性能测试方法中利用圆周运动模拟直线运动测 试高速运动超高频电子标签性能的模型示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实 施例,并参照附图,对本发明进一步详细说明。
图1为本发明电子标签性能测试方法提供的电子标签高速运动,由远 到近通过读写器的实际应用场景说明图。如图1所示,龙门架为放置读写 器天线的结构,O点为天线放置位置,O’是O点地面垂线的垂足点。H 为天线据地面的垂直高度。A点为电子标签能够与读写器天线正常进行 RFID通信,距离龙门架的最远点,B点为电子标签能够与读写器天线正 常进行RFID通信,距离龙门架的最近点,D为A点与O’之间的直线距 离,d为A点与B点之间的直线距离,γ1为直线OA与地面的夹角,V为 电子标签直线高速运动时的速度。其中,其中O′O即 为天线高度,O′A为天线最远工作范围。实际应用时读写器接收器工作中 心频率值f0,读写器接收器接收频率允许误差Δf。
为实现以上目的,在本发明的一示例性实施例中,提供了一种电子标 签性能测试方法,其包括以下步骤:
步骤A:利用圆周运动模拟直线运动;
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