[发明专利]激光测距仪的测量方法及激光测距装置

权利要求书

1.一种激光测距仪的测量方法，其特征在于：包括以下步骤：

A、利用差频测相技术，微处理器（1）控制锁相环电路（2）产生A个高频信号，A为大于等于8的偶数，在0-500毫秒的时间间隔内产生A个所述高频信号依次形成A个主振信号，A个所述主振信号通过激光驱动器（4）调制后控制激光模组（5）发出测量激光束；

B、所述微处理器（1）控制低频正弦波RC电路（9）产生A个低频信号，A个所述低频信号与所述锁相环电路（2）产生的A个所述高频信号在混频器（3）中上变频或下变频形成A个本振信号，A个所述本振信号进入雪崩二极管（7）；

C、每个所述主振信号经测量激光束投射到同一个被测物（6）后反射到所述雪崩二极管（7）形成返回信号，每个所述返回信号和相对应的所述本振信号进行混频，混频后形成带有相同距离信息的低频信号，所述带有相同距离信息的低频信号通过信号放大及滤波电路（8）后进入所述微处理器（1）；

D、所述微处理器（1）利用鉴相技术分别对A个带有相同距离信息的低频信号鉴相，形成A个带距离信息的相位差,该信号中含有距离相差和非距离相差。

2.根据权利要求1所述一种激光测距仪的测量方法，其特征在于：所述鉴相技术根据激光相位测距原理，距离D=L*N+L*Φ/2∏，其中L为测尺长度，N为整数个测尺数量，∏为圆周率，Φ为相位差，所述微处理器（1）将所述的A个带距离信息的相位差和A个测尺L形成A/2对等式，测尺L=C/2F，其中C为光速，F为主振频率，通过解方程组得出准确的N值，再次利用等式D=L*N+L*Φ/2∏，求出相位差中的距离相差和非距离相差，从而精确测定所测距离。

3.一种激光测距装置，包括微处理器（1），其特征在于：所述微处理器（1）控制锁相环电路（2），所述锁相环电路（2）产生的高频信号形成主振信号后通过激光驱动器（4）调制后控制激光模组（5）发出测量激光束，所述微处理器（1）还控制低频正弦波RC电路（9），所述低频正弦波RC电路（9）产生的低频信号与所述锁相环电路（2）产生的高频信号在混频器（3）中上变频或下变频形成本振信号，所述本振信号进入雪崩二极管（7），所述主振信号经测量激光束投射到被测物（6）后反射到所述雪崩二极管（7）形成返回信号，所述返回信号和所述本振信号混频后形成带有相同距离信息的低频信号，所述带有相同距离信息的低频信号通过信号放大及滤波电路（8）后进入所述微处理器（1）。

4.根据权利要求3所述激光测距装置，其特征在于：所述混频器（3）为正交调整调解器。

5.根据权利要求3所述激光测距装置，其特征在于：所述所述返回信号和所述本振信号在二极管型混频器或所述雪崩二极管（7）中混频。