[发明专利]一种石墨烯纳米图案的加工方法无效
申请号: | 201110321806.7 | 申请日: | 2011-10-20 |
公开(公告)号: | CN102358614A | 公开(公告)日: | 2012-02-22 |
发明(设计)人: | 张广宇;时东霞;史志文;张连昌;杨蓉 | 申请(专利权)人: | 中国科学院物理研究所 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人: | 王勇 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 石墨 纳米 图案 加工 方法 | ||
1.一种石墨烯纳米图案的加工方法,包括:
在石墨烯上形成人工缺陷;
用含氢等离子体对该石墨烯进行各向异性刻蚀。
2.根据权利要求1所述的方法,其中所述人工缺陷包括孔。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述人工缺陷可以排列成点阵图 案。
4.根据权利要求3所述的方法,其中所述点阵图案可以为三角点阵或 矩形点阵。
5.根据权利要求1所述的方法,其中人工缺陷可以通过光刻、纳米压 印、机械冲击、激光扫描而形成。
6.根据权利要求1所述的方法,其中用含氢等离子体对石墨烯的各向 异性刻蚀,使人工缺陷逐渐增大,直到形成所需图案为止。
7.根据权利要求1所述的方法,其中所述含氢等离子体刻蚀的参数 为:反应温度,室温至520℃;气压,小于1Torr;等离子体功率,30-120W; 刻蚀速度,小于15nm/分钟。
8.根据权利要求3所述的方法,还包括确定石墨烯晶格取向,并设计 所述人工缺陷的点阵图案的取向与石墨烯晶格取向之间的夹角。
9.根据权利要求8所述的方法,其中确定石墨烯晶格取向的方法包 括:
在石墨烯片上刻蚀出一个小孔;
用含氢等离子体刻蚀,将这个小孔扩展成六角形大孔,根据该六角形 大孔的边缘的取向来确定石墨烯的晶格取向。
10.根据权利要求1、6、7或9所述的方法,其中含氢等离子体包括 氢气、甲烷、乙烯、水蒸气所生成的等离子体。
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