[发明专利]一种液晶面板响应时间测量装置及测量方法无效

专利信息
申请号: 201110320272.6 申请日: 2011-10-20
公开(公告)号: CN103064203A 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 孟伟东 申请(专利权)人: 四川长虹电器股份有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G01R31/00
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 詹永斌;卿诚
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 液晶面板 响应 时间 测量 装置 测量方法
【权利要求书】:

1.一种液晶面板响应时间测量装置,其特征在于包括液晶面板、光敏晶体管、取样电阻、示波器,所述光敏晶体管面贴在液晶面板的表面,所述光敏晶体管用于检测液晶面板在进行黑场到白场再到黑场循环画面播放时的光照度变化,所述光敏晶体管分别连接取样电阻和示波器。

2.如权利要求1所述的液晶面板响应时间测量装置,其特征在于所述光敏晶体管外部用黑色胶布封盖。

3.一种液晶面板响应时间测量方法,所述方法包含以下步骤:

在液晶面板进行黑场到白场再到黑场循环的画面播放时,液晶面板产生调制液晶面板分子从关闭到打开再关闭的循环过程;在黑场到白场再到黑场循环的画面播放时,通过液晶面板的光被调制,通过液晶面板从黑场到白场再到黑场的变化过程,光敏晶体管将其变化过程转换为电流变化,并经取样电阻取样后,转换为电压的变化过程,最后通过示波器对取样电阻电压波形的测量,得到液晶面板分子从从黑场到白场时的上升时间和从白场到黑场时的下降时间,从而得到被测的液晶面板的响应时间;

所述响应时间=上升时间+下降时间。

4.如权利要求3所述的液晶面板响应时间测量方法,其特征在于所述光敏晶体管外部用黑色胶布封盖。

5.如权利要求4所述的液晶面板响应时间测量方法,其特征在于所述测量液晶面板分子从黑场到白场再到白场的时间为:电压波形上升段10%至90%幅度的时间为液晶面板响应时间的上升时间;电压波形下降段90%至10%幅度的时间为液晶面板响应时间的下降时间。

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