[发明专利]图像处理设备、图像处理方法及程序无效

专利信息
申请号: 201110319776.6 申请日: 2011-10-14
公开(公告)号: CN102572447A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 野村宜邦 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: H04N9/04 分类号: H04N9/04;G06T3/40
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 杜诚;李春晖
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 图像 处理 设备 方法 程序
【权利要求书】:

1.一种图像处理设备,包括:

检测部,其接收由单芯片彩色成像装置的成像处理产生的颜色马赛克图像作为输入,并且检测在作为内插处理目标的目标像素附近的高频信号的强度;

多个统计量计算部,其中的每个统计量计算部设定在所述目标像素周围具有不同面积的参考区域,并且基于所述参考区域中包括的像素值来计算单独的统计量;以及

内插部,其根据由所述检测部检测到的所述高频信号的所述强度来改变由所述多个统计量计算部计算的多个统计量的混合状态,并且通过所述多个统计量的混合处理来计算在所述目标像素的位置处的内插像素值。

2.如权利要求1所述的设备,

其中,在由所述检测部检测到的所述高频信号的所述强度大的情况下,所述内插部计算根据宽参考区域计算的统计量的贡献被设定在高水平的内插像素值,而在由所述检测部检测到的所述高频信号的所述强度小的情况下,所述内插部计算根据窄参考区域计算的统计量的贡献被设定在高水平的内插像素值。

3.一种图像处理设备,包括:

检测部,其接收由单芯片彩色成像装置的成像处理产生的颜色马赛克图像作为输入,并且检测在作为内插处理目标的目标像素附近的高频信号的强度;

参考区域确定部,其确定用于限定参考像素的范围的参考区域,其中,所述参考像素用于计算所述目标像素的内插像素值,所述参考区域根据由所述检测部检测到的所述高频信号的所述强度而具有不同面积;

统计量计算部,其根据由所述参考区域确定部确定的所述参考区域中包括的像素值,计算用于确定所述内插像素值的统计量;以及

内插部,其根据由所述统计量计算部计算的所述统计量,计算在所述目标像素的位置处的所述内插像素值。

4.如权利要求3所述的设备,

其中,在由所述检测部检测到的所述高频信号的所述强度大的情况下,所述参考区域确定部设定宽参考区域,而在由所述检测部检测到的所述高频信号的所述强度小的情况下,所述参考区域确定部设定窄参考区域。

5.如权利要求1所述的设备,

其中,所述检测部在作为所述内插处理目标的所述目标像素的附近,检测在奈奎斯特频率附近的所述高频信号的所述强度。

6.如权利要求5所述的设备,

其中,所述检测部使用使在所述奈奎斯特频率附近的高频带通过的高通滤波器HPF,来检测所述高频信号的所述强度。

7.如权利要求1所述的设备,

其中,所述检测部计算包括在由所述单芯片彩色成像装置的所述成像处理产生的所述颜色马赛克图像中的颜色信号,并且根据所计算的信号检测所述高频信号的所述强度。

8.如权利要求1所述的设备,

其中,所述统计量计算部计算所参考区域中包括的像素的所述像素值的平均作为所述统计量。

9.如权利要求1所述的设备,

其中,所述统计量计算部采用无限脉冲响应IIR滤波器。

10.一种图像处理方法,用于在图像处理设备中执行像素值内插处理,所述方法包括:

经由检测部,来接收由单芯片彩色成像装置的成像处理产生的颜色马赛克图像作为输入,并且检测在作为内插处理目标的目标像素附近的高频信号的强度;

经由多个统计量计算部中的每个,来设定在所述目标像素周围具有不同面积的参考区域,并且基于所述参考区域中包括的像素值来计算单独的统计量;以及

经由内插部,根据由所述检测部检测到的所述高频信号的所述强度来改变由所述多个统计量计算部计算的多个统计量的混合状态,并且通过所述多个统计量的混合处理来计算在所述目标像素的位置处的内插像素值。

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