[发明专利]异种光纤熔接点纤芯损耗测量方法及其测量系统

权利要求书

1.一种异种光纤熔接点纤芯损耗测量方法，其特征在于：它包括如下步骤：

(a)、选取两根待测量的不同类型的光纤，在两根光纤的一端分别连接光源，在两根光纤的另一端分别连接光功率计，打开光源和光功率计，读取光功率计读数，得到上述两根光纤在直连情况下的光功率数值为Ra、Rb；

(b)、保持光纤端头与光源及光功率计的连接不变，将所述的两根光纤从中间部位分别截断，并相交叉熔接，形成两根混合的异种光纤；

(c)、保持所述两台光源的光输出功率不变，再次读取光功率计读数，得到交叉熔接后的光功率数值为Ras、Rbs；

(d)、根据上述测量数据，计算得到异种光纤熔接点纤芯的平均损耗为：[(Ra+Rb)-(Ras+Rbs)]/2。

2.根据权利要求1所述的异种光纤熔接点纤芯损耗测量方法，其特征在于：步骤(a)中，所述的两根待测量的光纤在芯折射率、包层折射率、芯半径、包层半径、包层结构、掺杂条件、制造商、批次中的一种或多种方面不完全相同。

3.根据权利要求1或2所述的异种光纤熔接点纤芯损耗测量方法，其特征在于：所述光源的光信号由半导体激光器、光纤激光器、固体激光器或气体激光器产生。

4.根据权利要求1或2所述的异种光纤熔接点纤芯损耗测量方法，其特征在于：步骤(a)中，当所述的光纤中有一根或两根为双包层光纤时，在该双包层光纤的两侧靠近端点处还分别设置有用于增加测量精度的包层功率剥离器。

5.一种采用权利要求1所述的异种光纤熔接点纤芯损耗测量方法的测量系统，其特征在于：它包括

光源，其具有两个，分别连接在两根待测光纤的一端，所述的光源用于产生一定强度的光信号；

光功率计，其具有两个，分别连接在两根待测光纤的另一端，所述的光功率计用于测量光功率大小；

所述的光源与光纤、光功率计与光纤在熔接前和熔接后保持固定连接，通过分别读取熔接前和熔接后光功率计的读数，得到两根待测光纤在直连情况下的光功率和交叉熔接形成异种光纤后的光功率值，以获得光纤熔接点纤芯损耗的测量值。

6.根据权利要求5所述的异种光纤熔接点纤芯损耗测量系统，其特征在于：所述的光源类型为半导体激光器、光纤激光器、固体激光器或气体激光器中的一种。

7.根据权利要求5所述的异种光纤熔接点纤芯损耗测量系统，其特征在于：所述的光功率计为光电探头或热光探头类型的光功率计中的一种。

8.根据权利要求5所述的异种光纤熔接点纤芯损耗测量系统，其特征在于：当待测光纤中有一根或两根为双包层光纤时，在相应的双包层光纤的两侧靠近端点处还分别设置有用于增加测量精度的包层功率剥离器。