[发明专利]TVS二极管及其制作方法无效

专利信息
申请号: 201110312920.3 申请日: 2011-10-14
公开(公告)号: CN103050545A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 纪刚;顾建平 申请(专利权)人: 上海韦尔半导体股份有限公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L29/06;H01L21/329
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 薛琦;朱水平
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: tvs 二极管 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种TVS二极管的制作方法,其特征在于,其包括以下步骤:

S1、提供一N+/N-外延衬底,其中该N+/N-外延衬底包括N+型衬底和位于该N+型衬底表面上的N-外延层;

S2、在该N-外延层的表面中形成P+掺杂区域;

S3、在该N-外延层的表面形成钝化层;

S4、在该N+/N-外延衬底的背面淀积金属金层形成阴电极;

S5、进行金属金的热扩散,使金属金层中的金属金从该N+/N-外延衬底的底部渗入至该N+/N-外延衬底的内部,并扩散到由该P+掺杂区域以及该N-外延层所形成的PN结的周围,以在该N+/N-外延衬底的内部形成金的替位掺杂区域;

S6、在该N-外延层的表面形成阳电极,其中该阳电极形成于该N-外延层的表面上与该P+掺杂区域相对应的位置,

其中,所述的N型替换为P型时,P同时替换为N。

2.如权利要求1所述的TVS二极管的制作方法,其特征在于,步骤S1中提供的该N+型衬底的厚度为650-750μm,和/或该N+型衬底的掺杂浓度为1.32E17-5.63E17/cm3,和/或该N-外延层的厚度为2-5um,和/或该N-外延层的掺杂浓度为8.9E14-4.8E15/cm3

3.如权利要求1所述的TVS二极管的制作方法,其特征在于,步骤S2还包括以下步骤:

S21、在该N-外延层的表面上形成第一掩膜,其中未被该第一掩膜覆盖的区域为第一开放区域;

S22、加速P型离子并通过离子注入的方式将该P型离子从该第一开放区域注入至该N-外延层中;

S23、去除该第一掩膜,并对步骤S22中的离子注入区域进行热处理,激活并推进该P型离子以形成该P+掺杂区域。

4.如权利要求3所述的TVS二极管的制作方法,其特征在于,其中,

步骤S21中通过光刻方式形成该第一掩膜,其中该第一掩膜为厚度为2-3um的光刻胶,和/或,

步骤S22中该P型离子被加速至60Kev-120Kev,其中该P型离子的掺杂剂量为1E15-1E16/cm2,和/或,

步骤S23中热处理的温度为1100-1200℃,热处理时间为60-120分钟。

5.如权利要求1所述的TVS二极管的制作方法,其特征在于,步骤S3中通过CVD方式形成厚度为3-5um的钝化层,其中该钝化层为二氧化硅薄膜。

6.如权利要求1所述的TVS二极管的制作方法,其特征在于,步骤S3之后、步骤S4之前还包括以下步骤:

SP、通过机械减薄将该N+型衬底的厚度减薄至250-300um。

7.如权利要求1所述的TVS二极管的制作方法,其特征在于,步骤S4中淀积的金属金层的厚度为

8.如权利要求1所述的TVS二极管的制作方法,其特征在于,步骤S5中金属金的热扩散温度为750-1000℃。

9.如权利要求1-8中任意一项所述的TVS二极管的制作方法,其特征在于,步骤S6还包括以下步骤:

S61、在与该P+掺杂区域相对应的该钝化层中形成接触孔;

S62、在该接触孔中淀积金属铝或者铝硅铜合金;

S63、刻蚀该金属铝或者铝硅铜合金以形成该阳电极。

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