[发明专利]收回重建内存空间方法无效
申请号: | 201110312297.1 | 申请日: | 2011-10-14 |
公开(公告)号: | CN103049386A | 公开(公告)日: | 2013-04-17 |
发明(设计)人: | 储永强 | 申请(专利权)人: | 绿智慧流科技公司 |
主分类号: | G06F12/02 | 分类号: | G06F12/02 |
代理公司: | 北京市浩天知识产权代理事务所 11276 | 代理人: | 刘云贵;韩龙 |
地址: | 塞舌尔共*** | 国省代码: | 塞舌尔;SC |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 收回 重建 内存空间 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种收回重建内存空间方法,特别涉及自回收晶粒(inked die)中收回可使用的内存空间并且能重建具有标准化或非标准化的该存储容量的该内存以供使用的收回重建内存空间方法。
背景技术
现有技术中,由于全世界的网络走入一个新的云端应用模式,故在个人公司的商业应用数据上,是将所有的数据全部导入至云端的服务器上。此外,再加上光纤、WI-FI及移动通信的普及,让全世界消耗闪存的速度每年呈现倍数的复合成长。再者,因为云端的服务器是使用高阶的SSD以提高效能。随着大量应用的需求,该SSD的容量也快速地增长,且又加上智能手机和平板电脑以爆量的快速成长,使得闪存也大量使用在这些消费电子装置上。
然而,该闪存的制作过程中,是借由在晶圆上形成多个晶粒,并将这些晶粒经切割后,用于提供上述的应用。但,由于制程的关系这些晶粒良品率无法达到百分之百,例如在图1中,是对于一晶圆上的这些晶粒进行测试,而测试的这些晶粒中,属于可使用的晶粒约有656颗,而不良的晶粒约有106,其良品率大概仅有85%左右,换句话说,不良率高达15%。该不良的晶粒(也称为缺陷晶粒)会遭受到淘汰舍弃。但就实际而言,这些不良的晶粒中并非完全无法使用,参考图2为良好的晶粒,而图3为不良的晶粒(如阴影线部分所示)。然而,在图3中,以晶胞的角度而言,尚有许多晶胞并未损坏,其可视为非缺陷的部分,这部分是仍然可以使用的。若遭到舍弃,则是浪费了资源。
故有需要通过本发明所提供的方法,用以解决现有技术的缺失。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种收回重建内存空间方法,其可自回收晶粒(inked die)中收回可使用的内存空间以形成具有标准化或非标准化存储容量的内存。
本发明的另一目的是根据前述所提供的方法,可借由对晶粒中不管是区块区域(block)、页面区域(page)与晶胞区域(cell)的至少其中之一进行读取、写入与比较,而用以获得正常的与不正常的该区块区域、该页面区域与该晶胞区域的密度分布,以供重新配置而重建该内存。
本发明的又一目的是根据前述所提供的方法,可提供最终产品端(end of product)再判断该区块区域、该页面区域与该晶胞区域的至少其中之一是否为正常的,而再进一步配置与搜集标记正常的该区块区域、该页面区域与该晶胞区域的至少其中之一,用以达成动态地形成具有标准化或非标准化该存储容量的该内存。
为达上述目的及其它目的,本发明提供一种收回重建内存空间方法,其用于收回回收晶粒(inked die)中可使用的内存空间,以形成具有标准化或非标准化存储容量的内存,其包括步骤(a)提供具有区块区域(block)、页面区域(page)与晶胞区域(cell)的晶粒(die);(b)扫描该晶粒的该区块区域、该页面区域与该晶胞区域的至少其中之一,并写入一测试数据至该晶粒所对应的各区域中,以使该晶粒借由执行写入、读取与比较该测试数据而产生测试结果,该测试结果用于标记正常的与不正常的该区块区域、该页面区域或该晶胞区域;(c)将该测试结果写入备用区域(spare areas)中,以显示在该晶粒中正常的与不正常的该区块区域、该页面区域与该晶胞区域的至少其中之一的密度分布;(d)判断该晶粒中所有的该区块区域、该页面区域与该晶胞区域的至少其中之一是否已完全地进行扫描与测试,以选择性地重复执行前述的步骤;以及(f)配置与搜集标记正常的该区块区域、该页面区域与该晶胞区域的至少其中之一,以重建具有标准化或非标准化的该存储容量的该内存。
与现有技术相比,本发明的收回重建内存空间方法可用以收回在晶圆(wafer)中具有缺陷的多个晶粒(die),使得可不管是借由区块区域(block)、页面区域(page)与晶胞区域(cell)的任一模式对该晶粒进行扫描与测试,均能搜寻出正常的区域(表示可用于进行数据的读取、写入与比较等作动),并借由在扫瞄与测试之后所形成的该测试结果,进一步根据算法对该区块区域、该页面区域与该晶胞区域进行全面性的重新配置,其中正常的各区域重新使用,而不正常的各区域则遭到删除以避免误使用。
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