[发明专利]量测数据上下偏差生成系统及方法无效
申请号: | 201110309825.8 | 申请日: | 2011-10-13 |
公开(公告)号: | CN103049627A | 公开(公告)日: | 2013-04-17 |
发明(设计)人: | 张旨光;袁忠奎;李东海;吴伟文;余娜 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G06F19/00 | 分类号: | G06F19/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数据 上下 偏差 生成 系统 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种量测数据分析系统及方法,特别是关于一种量测数据上下偏差生成系统及方法。
背景技术
在制造行业,工件尺寸的量测对保证产品质量起着重要的作用。制造企业获得并分析量测数据,根据分析结果对制造流程进行控制,从而实现产品质量的持续提高。一般来说,工件尺寸有其标准值及上下偏差,该上下偏差指定了该工件尺寸可以允许的误差范围。例如,某一圆直径的标准值为10mm,其上下偏差值为±0.05mm(即上偏差0.05mm,下偏差-0.05mm),则只要这个圆直径在9.95~10.05mm之间都是合格的。不同工件尺寸由于精度的不同,其上下偏差值会不同。当处理大量量测数据时,确定量测数据的上下偏差变得费时且易于出错。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种量测数据上下偏差生成系统,能够自动生成量测数据的上下偏差。
此外,还有必要提供一种量测数据上下偏差生成方法,能够自动生成量测数据的上下偏差。
一种量测数据上下偏差生成系统,运行于数据处理设备中,该系统包括:设定模块,用于设定各个小数位数对应的上下偏差;接收模块,用于接收量测数据及量测数据的标准值;匹配模块,用于确定所述标准值的小数位数,将标准值的小数位数与设定的上下偏差进行匹配,得到量测数据的上下偏差;及输出模块,用于输出量测数据、量测数据的标准值及上下偏差。
一种量测数据上下偏差生成方法,应用于数据处理设备中,该方法包括步骤:设定各个小数位数对应的上下偏差;接收量测数据及量测数据的标准值;确定所述标准值的小数位数,将标准值的小数位数与设定的上下偏差进行匹配,得到量测数据的上下偏差;及输出量测数据、量测数据的标准值及上下偏差。
本发明根据量测数据标准值的小数位数生成量测数据的上下偏差,提高了量测数据的分析效率。
附图说明
图1为本发明量测数据上下偏差生成系统较佳实施例的运行环境示意图。
图2为图1中量测数据上下偏差生成系统的功能模块图。
图3为本发明量测数据上下偏差生成方法较佳实施例的流程图。
主要元件符号说明
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司,未经鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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