[发明专利]一种粉体材料膨胀检测样品的制备方法无效
申请号: | 201110307283.0 | 申请日: | 2011-10-12 |
公开(公告)号: | CN102507278A | 公开(公告)日: | 2012-06-20 |
发明(设计)人: | 时东霞 | 申请(专利权)人: | 珠海彩珠实业有限公司 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28 |
代理公司: | 中山市科创专利代理有限公司 44211 | 代理人: | 谢自安 |
地址: | 528400 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 材料 膨胀 检测 样品 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种粉体材料膨胀检测样品的制备方法。
背景技术
膨胀系数是部分粉沫状材料检测的关键项目之一。在检测之前,需将粉沫状材料加工成一定的形状,一般为柱状。根据检测仪器的不同,该柱子的尺寸:直径、长度会有所不同。
现有技术中制备粉体材料膨胀检测样品的方法是:将压制成形的柱子直接放在玻璃板上入炉烧结。烧结后柱子与玻璃板粘接在一起,需要敲碎玻璃板取下柱子。但在敲击玻璃板的同时,往往会将柱子损坏,导致制备的成功率较低。而且即使成功将柱子分离,还需将粘附在柱子底部的玻璃部分打磨掉,费时费力。
发明内容
本发明的目的是为了克服现有技术中的不足之处,提供一种方法简单,样品成功率高,能有效减少材料损耗的粉体材料膨胀检测样品的制备方法。
为了实现上述目的,本发明采用以下方案:
一种粉体材料膨胀检测样品的制备方法,其特征在于包括以下步骤:
A、将粉体材料放入模具中压制成柱状;
B、在玻璃板上铺一层粉沫保护层;
C、将步骤A中的柱状粉体材料放置在粉沫保护层上;
D、将步骤C中放置有柱状粉体材料的玻璃板放入烧结炉中进行烧结,烧结完成后将柱状粉体材料取下即可。
如上所述的一种粉体材料膨胀检测样品的制备方法,其特征在于所述的粉沫保护层为Al2O3粉沫层。
如上所述的一种粉体材料膨胀检测样品的制备方法,其特征在于所述的粉沫保护层为SiO2粉沫层。
如上所述的一种粉体材料膨胀检测样品的制备方法,其特征在于还包括将步骤D烧结完成后取下的柱状粉体材料打磨成要求尺寸。
本发明中所述的粉体材料可以为:
1、封接用低熔点玻璃粉材料
主要用于显像管中屏锥的封接或其它材料的封接,膨胀系数约为98×10-7/℃
构成成份:PbO-ZnO-B2O3-其它
2、PDP用后介质玻璃粉
主要制作在PDP的后玻璃基板的寻址电极上,在放电的时候,介质层起到电容的作用可限制电流。膨胀系数约为87×10-7/℃
构成成分:Bi2O3-B2O3-ZnO+其他
3、PDP用障壁玻璃粉
主要呈井字型或条状制作在PDP后板上,以分隔各发光区域,防止光电串扰。膨胀系数约为81×10-7/℃
构成成分:B2O3+BaO+ZnO+其他
综上所述,本发明的有益效果是:
本发明方法步骤简单,制备样品的成功率大幅度提高,基本可达到100%;且玻璃板与保护层粉沫可反复使用,减少实验的材料损耗。节省了成本。
具体实施方式
下面结合具体实施方式对本发明做进一步描述:
实施例1
本发明粉体材料膨胀检测样品的制备方法,包括以下步骤:
A、将粉体材料放入模具中压制成柱状;
B、在玻璃板上铺一层Al2O3粉沫保护层;
C、将步骤A中的柱状粉体材料放置在Al2O3粉沫保护层上;
D、将步骤C中放置有柱状粉体材料的玻璃板放入烧结炉中进行烧结,视检测材料的软化温度设定烧结温度,一般材料在500℃左右,烧结完成后将柱状粉体材料取下即可。
实施例2
本发明粉体材料膨胀检测样品的制备方法,包括以下步骤:
A、将粉体材料放入模具中压制成柱状;
B、在玻璃板上铺一层SiO2粉沫保护层;
C、将步骤A中的柱状粉体材料放置在SiO2粉沫保护层上;
D、将步骤C中放置有柱状粉体材料的玻璃板放入烧结炉中进行烧结,视检测材料的软化温度设定烧结温度,一般材料在500℃左右,烧结完成后将柱状粉体材料取下;
E、将步骤D烧结完成后取下的柱状粉体材料打磨成要求尺寸即可进行检测。
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