[发明专利]一种粉体材料膨胀检测样品的制备方法无效

专利信息
申请号: 201110307283.0 申请日: 2011-10-12
公开(公告)号: CN102507278A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 时东霞 申请(专利权)人: 珠海彩珠实业有限公司
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28
代理公司: 中山市科创专利代理有限公司 44211 代理人: 谢自安
地址: 528400 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 材料 膨胀 检测 样品 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种粉体材料膨胀检测样品的制备方法。

背景技术

膨胀系数是部分粉沫状材料检测的关键项目之一。在检测之前,需将粉沫状材料加工成一定的形状,一般为柱状。根据检测仪器的不同,该柱子的尺寸:直径、长度会有所不同。

现有技术中制备粉体材料膨胀检测样品的方法是:将压制成形的柱子直接放在玻璃板上入炉烧结。烧结后柱子与玻璃板粘接在一起,需要敲碎玻璃板取下柱子。但在敲击玻璃板的同时,往往会将柱子损坏,导致制备的成功率较低。而且即使成功将柱子分离,还需将粘附在柱子底部的玻璃部分打磨掉,费时费力。

发明内容

本发明的目的是为了克服现有技术中的不足之处,提供一种方法简单,样品成功率高,能有效减少材料损耗的粉体材料膨胀检测样品的制备方法。

为了实现上述目的,本发明采用以下方案:

一种粉体材料膨胀检测样品的制备方法,其特征在于包括以下步骤:

A、将粉体材料放入模具中压制成柱状;

B、在玻璃板上铺一层粉沫保护层;

C、将步骤A中的柱状粉体材料放置在粉沫保护层上;

D、将步骤C中放置有柱状粉体材料的玻璃板放入烧结炉中进行烧结,烧结完成后将柱状粉体材料取下即可。

如上所述的一种粉体材料膨胀检测样品的制备方法,其特征在于所述的粉沫保护层为Al2O3粉沫层。

如上所述的一种粉体材料膨胀检测样品的制备方法,其特征在于所述的粉沫保护层为SiO2粉沫层。

如上所述的一种粉体材料膨胀检测样品的制备方法,其特征在于还包括将步骤D烧结完成后取下的柱状粉体材料打磨成要求尺寸。

本发明中所述的粉体材料可以为:

1、封接用低熔点玻璃粉材料

主要用于显像管中屏锥的封接或其它材料的封接,膨胀系数约为98×10-7/℃

构成成份:PbO-ZnO-B2O3-其它

2、PDP用后介质玻璃粉

主要制作在PDP的后玻璃基板的寻址电极上,在放电的时候,介质层起到电容的作用可限制电流。膨胀系数约为87×10-7/℃

构成成分:Bi2O3-B2O3-ZnO+其他

3、PDP用障壁玻璃粉

主要呈井字型或条状制作在PDP后板上,以分隔各发光区域,防止光电串扰。膨胀系数约为81×10-7/℃

构成成分:B2O3+BaO+ZnO+其他

综上所述,本发明的有益效果是:

本发明方法步骤简单,制备样品的成功率大幅度提高,基本可达到100%;且玻璃板与保护层粉沫可反复使用,减少实验的材料损耗。节省了成本。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本发明做进一步描述:

实施例1

本发明粉体材料膨胀检测样品的制备方法,包括以下步骤:

A、将粉体材料放入模具中压制成柱状;

B、在玻璃板上铺一层Al2O3粉沫保护层;

C、将步骤A中的柱状粉体材料放置在Al2O3粉沫保护层上;

D、将步骤C中放置有柱状粉体材料的玻璃板放入烧结炉中进行烧结,视检测材料的软化温度设定烧结温度,一般材料在500℃左右,烧结完成后将柱状粉体材料取下即可。

实施例2

本发明粉体材料膨胀检测样品的制备方法,包括以下步骤:

A、将粉体材料放入模具中压制成柱状;

B、在玻璃板上铺一层SiO2粉沫保护层;

C、将步骤A中的柱状粉体材料放置在SiO2粉沫保护层上;

D、将步骤C中放置有柱状粉体材料的玻璃板放入烧结炉中进行烧结,视检测材料的软化温度设定烧结温度,一般材料在500℃左右,烧结完成后将柱状粉体材料取下;

E、将步骤D烧结完成后取下的柱状粉体材料打磨成要求尺寸即可进行检测。

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