[发明专利]位置检测装置

权利要求书

1.一种用于电机的位置检测装置，其特征在于，包括：

定片栅格部件，其固定不动，并且包括多个栅格窗；

动片栅格部件，其可安装在所述电机的转子转轴上与所述转子转轴同步旋转，并且包括一个360度的栅格窗；

光照射部件，其向所述定片栅格部件的所述多个栅格窗照射光线；以及

多个光学传感器，每一个光学传感器与所述定片栅格部件的所述多个栅格窗的其中一个栅格窗相对应，并且根据经由所述对应的栅格窗的、穿过所述动片栅格部件的所述栅格窗的光线的强度，输出信号，

其中，所述定片栅格部件的所述多个栅格窗在所述定片栅格部件上的排列方式使得，当所述动片栅格部件随着所述电机的所述转子转轴同步旋转时，经由所述定片栅格部件的所述多个栅格窗中与所述多个光学传感器相对应的各个栅格窗的、穿过所述动片栅格部件的栅格窗的光线的强度变化互不相同，

其中，所述多个光学传感器所输出的信号的状态变化指示所述电机的所述转子转轴的位置信息。

2.如权利要求1所述的位置检测装置，其特征在于，

所述光照射部件穿过所述动片栅格部件的所述栅格窗向所述定片栅格部件的所述多个栅格窗照射光线，以及

所述多个光学传感器中的每一个根据所述定片栅格部件的所述多个栅格窗中相对应的栅格窗所反射的、穿过所述动片栅格部件的所述栅格窗的光线的强度，输出信号。

3.如权利要求2所述的位置检测装置，其特征在于，

所述定片栅格部件被安装在所述电机的外壳上，

其中，所述定片栅格部件均匀反射光线，以及所述电机的外壳均匀吸收光线。

4.如权利要求2所述的位置检测装置，其特征在于，

所述定片栅格部件被制作在所述电机的外壳上，

其中，所述定片栅格部件的所述多个栅格窗中的各个栅格的光反射率与所述定片栅格部件的所述多个栅格窗中的各个栅格间隙的光反射率不相同。

5.如权利要求1所述的位置检测装置，其特征在于，

所述定片栅格部件被安装在所述电机的外壳上，所述定片栅格部件均匀吸收光线，所述电机的外壳均匀反射光线，

所述光照射部件穿过所述动片栅格部件的所述栅格窗向所述定片栅格部件的所述多个栅格窗照射光线，以及

所述多个光学传感器中的每一个根据所述电机的外壳所反射的、穿过所述定片栅格部件的所述多个栅格窗中所述相对应的栅格窗和所述动片栅格部件的所述栅格窗的光线的强度，输出信号。

6.如权利要求1所述的位置检测装置，其特征在于

所述光照射部件直接向所述定片栅格部件的所述多个栅格窗照射光线，以及

所述多个光学传感器中的每一个根据所述光照射部件所照射的、穿过所述定片栅格部件的所述多个栅格窗的其中一个和所述动片栅格部件的所述栅格窗的光线的强度，输出信号。

7.如权利要求1-6中的任意一个所述的位置检测装置，其特征在于

所述定片栅格部件的所述多个栅格窗的各个栅格的间距相同，以及

所述动片栅格部件的所述栅格窗的各个栅格的间距相同。

8.如权利要求1-6中的任意一个所述的位置检测装置，其特征在于，

所述述定片栅格部件的所述多个栅格窗在所述定片栅格部件上的排列满足以下关系：

m＝(i±1/j)*n

其中，m表示所述定片栅格部件的所述多个栅格窗的窗距，n表示所述动片栅格部件的所述栅格窗的栅格间距，i、j为整数。

9.如权利要求1-6中的任意一个所述的位置检测装置，其特征在于

所述多个传感器所输出的信号的状态变化顺序指示所述电机的所述转子转轴的旋转方向，以及

所述多个传感器所输出的信号的状态变化数量指示所述电机的所述转子转轴的相对位置。

10.如权利要求1-6中的任意一个所述的位置检测装置，其特征在于

所述光照射部件包括多个照射单元，每一个照射单元向所述定片栅格部件的所述多个栅格窗的其中一个照射光线。

11.如权利要求1-6中的任意一个所述的位置检测装置，其特征在于

所述动片栅格部件均匀吸收光线。

12.一种电机，其特征在于，包括权利要求1-11中的任意一个所述的位置检测装置。