[发明专利]用于校正兴趣点POI位置的方法和设备

权利要求书

1.一种用于校正兴趣点POI位置的方法，包括：

收集由用户提供的所述POI位置；以及

基于所收集的所述POI位置，将所述POI位置的覆盖范围由点扩展到面。

2.如权利要求1的方法，进一步包括：

对所收集的所述POI位置执行离群点检测与剔除操作。

3.如权利要求1或2的方法，其中将所述POI的覆盖区域由点扩展到面包括：

确定覆盖所收集的所述POI位置的基本形状；

计算所述基本形状的质心坐标，以作为所述经扩展的POI位置的质心坐标；以及

计算覆盖所述基本形状的最终形状的面积，以作为所述经扩展的POI位置的覆盖范围。

4.如权利要求3的方法，其中所述基本形状为最小凸多边形的最小面积外接矩形，该最小凸边形包含所收集的所述POI位置，并且由所收集的所述POI位置中最外围的POI位置之间的连线限定。

5.如权利要求4的方法，其中所述最终形状为所述最小面积外接矩形；以及

所述经扩展的POI位置至少包括属性：POI标识、POI名称、POI类型、质心坐标、所述最小面积外接矩形的四个顶点的坐标及作为覆盖范围的所述最小面积外接矩形面积。

6.如权利要求4的方法，其中所述最终形状为所述最小面积外接矩形的最小外接圆；以及

所述经扩展的POI位置至少包括属性：POI标识、POI名称、POI类型、质心坐标以及作为覆盖范围的所述最小外接圆面积。

7.一种用于校正兴趣点POI位置的设备，包括：

收集装置，配置用于收集由用户提供的所述POI位置；以及

扩展装置，配置用于基于所收集的所述POI位置，将所述POI位置的覆盖范围由点扩展到面。

8.如权利要求7的设备，进一步包括：

检测与剔除装置，配置用于对所收集的所述POI位置执行离群点检测与剔除操作。

9.如权利要求7或8的设备，其中将所述扩展装置进一步包括：

用于确定覆盖所收集的所述POI位置的基本形状的装置；

用于计算所述基本形状的质心坐标，以作为所述经扩展的POI位置的质心坐标的装置；以及

用于计算覆盖所述基本形状的最终形状的面积，以作为所述经扩展的POI位置的覆盖范围的装置。

10.如权利要求9的设备，其中所述基本形状为最小凸多边形的最小面积外接矩形，该最小凸边形包含所收集的所述POI位置，并且由所收集的所述POI位置中最外围的POI位置之间的连线限定。

11.如权利要求10的设备，其中所述最终形状为所述最小面积外接矩形；以及

所述经扩展的POI位置至少包括属性：POI标识、POI名称、POI类型、质心坐标、所述最小面积外接矩形的四个顶点的坐标及作为覆盖范围的所述最小面积外接矩形面积。

12.如权利要求10的设备，其中所述最终形状为所述最小面积外接矩形的最小外接圆；以及

所述经扩展的POI位置至少包括属性：POI标识、POI名称、POI类型、质心坐标以及作为覆盖范围的所述最小外接圆面积。