[发明专利]薄膜太阳能电池制作工艺、薄膜太阳能电池前体层堆叠的制造方法和太阳能电池前体层堆叠无效

专利信息
申请号: 201110304183.2 申请日: 2011-09-29
公开(公告)号: CN102447013A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 斯特凡·克莱恩;杜比亚斯·斯托利;苏珊娜·布斯史鲍姆;马丁·罗德;科拉德·施沃恩特兹;克利斯汀·斯多摩 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: H01L31/20 分类号: H01L31/20;H01L31/0392;H01L31/076;C23C16/40
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 王安武
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 薄膜 太阳能电池 制作 工艺 前体层 堆叠 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种制造适用于薄膜太阳能电池的层堆叠的方法,该方法包括以下步骤:

在透明衬底上沉积TCO层;

沉积配置来用于太阳能电池的第一p-i-n结的第一导电类型层;

沉积配置来用于太阳能电池的第一p-i-n结的第一本征型层;

沉积配置来用于太阳能电池的第一p-i-n结的另一导电类型层,所述另一导电类型层与所述第一导电类型层的导电性相反;

通过化学气相沉积来设置含SiOx的中间层;以及

沉积配置来用于太阳能电池的第二p-i-n结;

其中所述含SiOx的中间层设置为所述另一导电类型层的一部分,并且其中所述含SiOx的中间层具有小于等于17nm的厚度。

2.根据权利要求1所述的方法,还包括以下步骤:

在所述第一p-i-n结或第二p-i-n结的本征层中设置氢稀释度分级。

3.根据权利要求1所述的方法,还包括以下步骤:

在所述第一p-i-n结和第二p-i-n结的本征层中设置氢稀释度分级。

4.根据权利要求1至3中的任一项所述的方法,其中所述含SiOx的中间层是具有小于等于30%的微晶含量的微晶SiOx层。

5.根据权利要求1至3中的任一项所述的方法,其中所述含SiOx的中间层是具有约5%至10%的微晶含量的微晶SiOx层。

6.根据权利要求1至3中的任一项所述的方法,其中所述沉积所述含SiOx的中间层的步骤包括:

使包括至少硅烷、氢气和CO2的气体混合物在化学气相沉积处理的沉积区中流动。

7.根据权利要求4所述的方法,其中所述沉积所述含SiOx的中间层的步骤包括:

使包括至少硅烷、氢气和CO2的气体混合物在化学气相沉积处理的沉积区中流动。

8.根据权利要求1至3中的任一项所述的方法,其中所述含SiOx的中间层沉积为具有小于等于2.5的折射率。

9.一种用于太阳能电池的前体,该前体包括:

透明衬底;

配置来用于太阳能电池的第一p-i-n结的第一导电类型层;

配置来用于太阳能电池的第一p-i-n结的第一本征型层;

配置来用于太阳能电池的第一p-i-n结的另一导电类型层,所述另一导电类型层与所述第一导电类型层的导电性相反;

通过化学气相沉积而沉积的含SiOx的中间层;以及

配置来用于太阳能电池的第二p-i-n结;

其中所述含SiOx的中间层设置为所述另一导电类型层的一部分,并且其中所述含SiOx的中间层具有小于等于17nm的厚度。

10.根据权利要求9所述的前体,还包括:

在第一和第二p-i-n结的本征层的至少一者中的氢稀释度分级。

11.根据权利要求9所述的前体,其中所述SiOx的中间层是具有小于等于30%的微晶含量的微晶SiOx层。

12.根据权利要求9所述的前体,其中所述含SiOx的中间层包括碳。

13.根据权利要求9所述的前体,其中所述含SiOx的中间层具有小于等于2.5的折射率。

14.根据权利要求10所述的前体,其中所述含SiOx的中间层具有小于等于2.5的折射率。

15.根据权利要求11所述的前体,其中所述含SiOx的中间层具有小于等于2.5的折射率。

16.根据权利要求9至15中的任一项所述的前体,其中所述含SiOx的中间层具有依赖于波长的反射层。

17.根据权利要求9至16中的任一项所述的前体,其中所述含SiOx的中间层是掺杂层。

18.根据权利要求16所述的前体,其中所述含SiOx的中间层是所述另一导电类型层的掺杂层。

19.根据权利要求9至15中的任一项所述的前体,其中所述含SiOx的中间层具有5nm至15nm的厚度。

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