[发明专利]一种基于多晶片超声传感器的信号检测方法及装置有效
申请号: | 201110302238.6 | 申请日: | 2011-09-30 |
公开(公告)号: | CN102499673A | 公开(公告)日: | 2012-06-20 |
发明(设计)人: | 陈德伟;曾永华;汪培林;张雷 | 申请(专利权)人: | 深圳市理邦精密仪器股份有限公司 |
主分类号: | A61B5/0444 | 分类号: | A61B5/0444 |
代理公司: | 深圳市港湾知识产权代理有限公司 44258 | 代理人: | 孙强 |
地址: | 518067 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 多晶 超声 传感器 信号 检测 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及生物医学信号处理领域,特别涉及到一种基于多晶片超声传感器的信号检测方法及装置。
背景技术
目前,广泛应用于产科领域的超声多普勒胎儿监护仪,利用了声音的一个的特性——多普勒原理,它是指声音遇到运动物体反射的回声会发生频率偏移,偏移量与运动物体的速度成比例。胎儿监护仪的超声探头用绑带固定在孕妇腹部某个位置(一般是能很好对准胎心的区域),朝胎心发射超声波,并接收回波,由于胎儿心脏跳动对应的心壁、瓣膜速度在一定范围内,监护设备经过放大、滤波处理能够采集出由胎心反射的回声数据,还利用这个回声周期数据,计算出胎心率(FHR)的数据作为中间处理数据,为医生提供及时的参考。
实际临床应用中,胎儿在母体内羊水中会翻身或游动(即业内俗称的胎动),而探头是固定位置,胎儿动了以后,胎心不在探头超声的覆盖区域,则信号变差,影响监护的质量,需要医护人员及时调整探头位置,再次对准胎心;更常见的,在第二产程,即分娩过程中,由于胎儿随娩出而下降,胎心位置不断变化,而探头位置固定,不可避免的会导致探头捕捉的信号差引起监护效果不佳,现在常用的解决方法有两个,一是医护人员不断重新定位胎心且及时调整探头位置,重新获取较好的信号,但这样加重了医护人员的负担,增加了监护的难度;第二个方法是使用直接胎儿心电(Direct ECG),用螺旋电极钩到胎儿的头皮上,利用胎儿的心电信号来计算胎儿心率,但这种方式是有创的,操作难度大、而且受感染的风险较大。
发明内容
为克服上述缺陷,本发明的目的即在于一种基于多晶片超声传感器的信号检测方法及装置。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:
本发明一种基于多晶片超声传感器的信号检测装置,主要包括:
多晶片超声传感器分组模块,胎心信号采集模块,晶片组信号质量参数计算模块,信号质量参数比较模块,信号质量参数阈值比较模块和输出模块,
所述的多晶片超声传感器分组模块,用于将多晶片超声传感器根据预设标准分为多组进行胎心信号采集;
所述的胎心信号采集模块由多个信号采集晶片组成,与所述的多晶片超声传感器分组模块相连接,用于在预设时长内采集胎心信号;
所述的晶片组信号质量参数计算模块,与所述的胎心信号采集模块相连接,用于根据采集的胎心信号,计算得出每组晶片的信号质量参数;
所述的信号质量参数比较模块,与所述的晶片组信号质量参数计算模块和胎心信号采集模块相连接,用于比较每组晶片的信号质量参数,得出信号质量最好的晶片组,所述信号质量最好的晶片组进行胎心信号采集并输出,其余晶片组停止采集;
所述的信号质量参数阈值比较模块,与所述的信号质量参数比较模块和胎心信号采集模块相连接,用于每隔预设时长,检测该晶片组的信号质量参数,是否小于预设阈值,如果小于预设阈值,则重新在预设时长内采集胎心信号,并进行各组晶片的信号质量判断,如果大于预设阈值则所述信号质量最好的晶片组继续进行胎心信号采集并输出;
所述的输出模块,与所述的信号质量参数阈值比较模块和信号质量参数比较模块相连接,用于对所述信号质量最好的晶片组采集的胎心信号进行输出。
作为本发明进一步的技术方案,所述的一种基于多晶片超声传感器的信号检测装置还包括,
分组标准预设模块,采集时长设定与判断模块,采集模式判断模块,晶片组选取判断模块和监护检测判断模块,
所述的分组标准预设模块,与所述的多晶片超声传感器分组模块相连接,用于对所述的多晶片超声传感器的分组标准进行预先设定;
所述的采集时长设定与判断模块,与所述的胎心信号采集模块和信号质量参数阈值比较模块相连接,用于对采集信号的时间进行设定和判断采集时间是否超过设定时长,若超过设定时长,则向胎心信号采集模块和信号质量参数阈值比较模块发送超时信号;
所述的采集模式判断模块,与所述的胎心信号采集模块相连接,用于判断采集模式为分时采集还是同时采集,并将结果发送到所述的胎心信号采集模块;
所述的晶片组选取判断模块,与所述的信号质量参数比较模块和胎心信号采集模块相连接,用于判断是否完成多组晶片的选取,若未完成则继续选取其他组晶片进行胎心信号采集,若完成则进行晶片组信号质量参数比较;
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