[发明专利]一种改良的多晶硅太阳电池三层SiN减反膜的制备方法无效
申请号: | 201110301363.5 | 申请日: | 2011-10-08 |
公开(公告)号: | CN103035777A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
发明(设计)人: | 周艺;欧衍聪;黄岳文;何文红;郭长春;肖斌;黄燕;李荡 | 申请(专利权)人: | 长沙理工大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 410114 湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 改良 多晶 太阳电池 三层 sin 减反膜 制备 方法 | ||
1.一种改良的多晶硅太阳电池三层SiN减反膜的制备方法,其特征是采用晶体硅原料,依次经过清洗制绒、扩散、等离子刻蚀、去磷硅玻璃后,用等离子体增强化学气相沉积法(PECVD),在多晶硅表面进行三次不同折射率(其中n内>n中>n外)SiN减反膜的沉积。
2.用权利1中的方法制备出的三层SiN减反膜钝化效果佳,减反效果好,短波区的光谱吸收明显提高。
3.用权利1中的方法制备出的三层SiN减反膜能有效提高多晶硅太阳电池的光电性能,其中短路电流提高了100mA,光电转换效率提高了1.34%。
4.一种改良的多晶硅太阳电池三层SiN减反膜的制备方法,其制备方法为:在射频频率为40KHz,射频功率为4500W的条件下,通入NH3:SiH4 =1:4~5(即NH3、SiH4流量比为1:4~5),进行第一层SiN减反膜的制备,再通入NH3:SiH4 =1:6~7(即NH3、SiH4流量比为1:6~7),进行第二层SiN减反膜的制备,最后通入NH3:SiH4 =1:8~10(即NH3、SiH4流量比为1:8~10)进行第三层SiN减反膜的制备,腔体内保持100~300Pa恒压,反应温度为300℃~500℃。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的