[发明专利]各向异性导电膜及其组合物和包括该导电膜的装置

说明书

技术领域

本发明涉及各向异性导电膜、用于所述各向异性导电膜的各向异性导电膜组合物和包括所述各向异性导电膜的装置。更具体地，本发明涉及一种各向异性导电膜，用于所述各向异性导电膜的各向异性导电膜组合物和包括所述各向异性导电膜的装置，在所述各向异性导电膜中，所述粘结剂部分包括具有大于0且小于或等于100ppm的离子含量的丁腈橡胶树脂和/或聚氨酯树脂，从而所述各向异性导电膜具有大于0且小于或等于100ppm的离子含量，因此在与电路连接时不引起腐蚀。

背景技术

各向异性导电膜是指其中分散有导电颗粒如镍、金等的金属颗粒或涂覆有此金属的聚合物颗粒的粘合膜。当各向异性导电膜布置在待连接的电路之间且在预定条件下经过热和压力时，电路端子通过导电颗粒电连接。因为相邻电路之间的间距填充有绝缘粘结剂树脂，所以导电颗粒彼此不接触，从而提供强绝缘性能。

随着最近日益倾向于轻、薄和简单的IT装置和具有更高分辨率的平板显示器的趋势，装置电路的宽度变得更窄。在具有大宽度的常规电路中，电路中金属电极部分内发生的腐蚀不会引起整个电路的短路。然而，最近在具有较窄间距的电路中，当由于电极电路中的窄金属电极而发生腐蚀时，可引起短路，从而影响连接可靠性。

发明内容

本发明的一个方面提供了一种各向异性导电膜，包括粘结剂部分、固化部分、引发剂和导电颗粒，其中所述粘结剂部分包括选自由丁腈橡胶(NBR)树脂和聚氨酯树脂组成的组中的至少一种，并具有大于0且小于或等于100ppm的离子含量。

所述各向异性导电膜可具有大于0且小于或等于100μS/cm的导电率。

所述NBR树脂可具有大于0且小于或等于100ppm的离子含量。

所述聚氨酯树脂可具有大于0且小于或等于100ppm的离子含量。

所述粘结剂部分可进一步包括丙烯酸树脂。

所述粘结剂部分可包括20至90wt％的所述丙烯酸树脂、5至55wt％的具有大于0且小于或等于100ppm的离子含量的所述NBR树脂、以及5至40wt％的具有大于0且小于或等于100ppm的离子含量的所述聚氨酯树脂。

所述各向异性导电膜可进一步包括聚氨酯微珠。

所述聚氨酯微珠可具有大于0且小于或等于10ppm的离子含量。

本发明的另一个方面提供了一种各向异性导电膜组合物，包括粘结剂部分、固化部分、引发剂和导电颗粒，其中所述粘结剂部分包括选自由NBR树脂和聚氨酯树脂组成的组中的至少一种，且由所述组合物形成的各向异性导电膜具有大于0且小于或等于100ppm的离子含量。

本发明另一个方面提供了一种装置，所述装置包括所述各向异性导电膜或由所述组合物形成的各向异性导电膜。

具体实施方式

现将详细地描述本发明的各实施方式。

在一个实施方式中，各向异性导电膜包括粘结剂部分、固化部分、引发剂和导电颗粒，且具有大于0且小于或等于100ppm的离子含量。具体地，所述离子含量可为大于0且小于或等于50ppm。此时，金属电极中的腐蚀可能性降低，因此改进可靠性。

上述各向异性导电膜的离子含量可通过使用自动燃烧系统的离子色谱法来测定。

上述各向异性导电膜使用包括粘结剂部分、导电颗粒等的多种组分制备。因此，不会使用测定每个组分的离子含量和整个膜的离子含量的常规方法来确定膜与电路实际连接时在施加电压和电流下是否发生腐蚀。提前测定各向异性导电膜的导电率，以确定导电率是否大于0且小于或等于100μS/cm，从而预先确定在连接到电路时是否会在元件之间发生腐蚀。导电率可通过本领域任何已知方法测量。例如，可将0.4g的粘合膜置于20g去离子水(DIW)中，并在100℃下煮沸10小时，随后使用导电率仪测量溶解在水中的离子的导电率，但不限于此。具体地，导电率可为大于0且小于或等于30μS/cm。

粘结剂部分

粘结剂部分起到各向异性导电膜的基质作用，且可包括选自由丁腈橡胶(NBR)树脂和聚氨酯树脂组成的组中的至少一种。

对于固含量，粘结剂部分在各向异性导电膜中的含量可为20至78wt％。在此范围内时，可获得优异的膜形成性且导电率不会变高。具体地，含量可为30至75wt％。

本文中，术语“离子”是指在通过单体的聚合等制备聚合物树脂或微珠的过程中产生的离子，如Na⁺和Cl^-离子，但不限于此。

离子含量可通过使用本领域任何已知方法来测定，如自动燃烧系统的离子色谱法。