[发明专利]光电检测系统的探头下压装置与下压方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种光电检测系统的探头下压装置与下压方法，特别涉及一种探头向底盘施加的压力能够保持恒定的探头下压装置。

背景技术

光电检测技术是光学与电子学相结合而产生的一门新兴的检测技术。目前，众所周知的光电检测系统都是以激光、红外、光纤等现代光电器件为基础，通过对载有被检测物体信号的光辐射(发射、反射、散射、衍射、折射、投射等)进行检测，通过这些光电检测器件(如光电二极管)接收光辐射并转换为电信号，由输入电路、放大滤波等检测电路提取有用的信息，再经过A/D变换接口输入微型计算机运算、处理，最后显示或打印输出所需检测物体的几何量或物理量。

在检测过程中，被测物体被放置在位于下方的底盘上，探头则从位于上方的初始位置开始下移，直至与底盘相接触，然后继续施加向下的压力直至包裹住被测物体。

现有光电检测系统中，探头从初始位置开始，下移的距离通常是固定的，但不同测量中被测物体的承载高度却存在差异，并且由于探头以及底盘多为金属材质、具有大弹性模量，这就导致探头在接触到不同被测物体后施加的压力具有较大差异。探头向被测物体施加的压力的差异将导致光学通路的不稳定，进而直接影响检测结果的精确度。倘若压力过大，还会压坏底盘或探头，甚至损坏仪器本身。

因此，在高精度的光电检测系统中，必须想办法尽量维持压力恒定，确保检测系统的检测精度。

发明内容

本发明的目的在于提供一种探头向被测物体施加的压力能够保持恒定的光电检测系统的探头下压装置。

本发明是通过如下技术方案实现的：一种光电检测系统的探头下压装置，包括：用于放置被测物体的底盘、设置在所述底盘上方并能相对所述底盘在竖直方向上移动的探头、与所述探头连接从而控制所述探头的移动的下压模块，其特征在于：所述下压模块与探头滑动连接，所述探头的底部设置有第一磁性块，所述底盘上设置有对应于所述第一磁性块的第二磁性块，第一磁性块与第二磁性块之间能够具有吸合力。

所述第一磁铁与第二磁铁的设置可以为例如：所述第一磁性块与第二磁性块均为永磁铁；第一磁性块为铁块、钴块、镍块或者其三者的合金块，第二磁性块为电磁铁，连接至电开关。

相应的，本发明还提出一种下压方法，包括如下步骤：(a)探头在下压模块的作用下，从悬空于底盘上方的初始位置开始向下移动，直至探头的底部接触到底盘；(b)下压模块继续下压，探头的底部与底盘抵触，下压模块相对本体向下滑动，第一磁性块与第二磁性块之间的吸合力提供探头与底盘之间的贴合力，且探头与底盘之间的贴合力保持恒定。

根据第一磁性块与第二磁性块的性质以及控制方法的不同，第一磁性块与第二磁性块之间的吸合力存在多种情况，例如：当探头从悬空于底盘上方的初始位置开始向下移动时，即有吸合力；或者，当探头从悬空于底盘上方的初始位置开始向下移动时，无吸合力；当探头的底部与底盘抵触时，存在吸合力。

根据本发明实施的光电检测系统的探头下压装置，探头与底盘之间的贴合力主要是由磁性块的吸合力决定的，而当探头的底部接触到底盘之后，下压模块继续下压的距离对探头与底盘之间的贴合力并无影响。

如此一来，不仅能保证不同高度的被测物体受到的压力大致相同，同一个被测物体承受的探头压力也将基本维持恒定，彻底避免由于探头位移及探头形变而令探头压力发生过大波动，避免检测结果产生较大误差，保证光电检测系统的一致性，大幅度提高检测精度，同时也能避免仪器由于在瞬间受到过大压力而发生损坏。

附图说明

通过附图中所示的本发明的优选实施例的更具体说明，本发明的上述及其它目的、特征和优势将更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分。并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图，重点在于示出本发明的主旨。

附图1为实施例1的探头下压装置的结构示意图；

附图2a至2c为实施例1的探头下压装置的使用过程示意图；

附图3为实施例2的探头下压装置的结构示意图。

其中：

10、探头；11、本体；12、第一磁性块；

20、底盘；21、第二磁性块；22、电开关；

30、下压模块；

40、光电检测部件；

50、LED灯；

60、被测物体。

具体实施方式

以下结合实施例和附图，对本发明的具体实施方式进行详细说明。