[发明专利]紫外传感增强膜变频效率的测试方法

权利要求书

1.一种紫外传感增强膜变频效率的测试方法，其特征在于：

A)首先计算变频效率CE

变频效率是反映荧光粉或荧光粉薄膜发光效率的一个物理量，定义为薄膜表面发生波长转换的紫外光子数与入射到薄膜的紫外光子数之比：

CE=PhotonsemittedPhotonsincident---(1)]]>

CE表示为变频效率，Photons_emitted表示入射到薄膜表面的紫外光子数，Photons_incident表示薄膜表面发射出的可见光子数；

B)计算薄膜表面入射紫外修正光子数Photons_incident

Photonsincident=Pin×λUVhc---(2)]]>

其中P_in为光功率计示数，λ_UV为紫外光波长，h为普朗克常量，c为光速；

C)计算出立体角修正数SA

但是对于出射光子数，由于受激发射的光子具有各向同性特性，即发射光并不循着入射光的方向，而只是部分地进入光功率计，所以在计算薄膜表面发射出的可见光子数时，需要考虑未被光功率计测量到的那部分光子数，有很多未探测到的光子，故引入立体角修正因子SA_correction

SAcorrection=∫0θ1rsinθdθ∫02πdφ---(3)]]>

其中θ为薄膜发光点发射光线中垂直于光功率计探测面的光线与被光功率计探测面边缘接收的光线的夹角，r为发射点光源到光功率计的距离，φ为方位角；

经公式(3)计算，得到立体角修正数：SA＝2πr(1-cosθ)    (4)

D)计算出样品表面发生波长转换的紫外光子数Photons_emitted

Photonsemitted=Pem×λvishc×SA×T---(5)]]>

其中：P_em为光功率计测得的出射光功率，λ_vis为发射出的可见光波长，h为普朗克常量，c为光速，SA为薄膜表面发射点到光功率计测试面的立体角修正数，T为薄膜透过率；

E)将Photons_emitted和Photons_incident代入公式(1)中求得变频效率CE。