[发明专利]随机验证方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路设计领域，具体涉及芯片的功能验证中提高验证效率的方法。

背景技术

随着集成电路设计的复杂度不断提高，功能验证正日渐成为集成电路设计面临的重要挑战。纳米工艺使得单芯片中晶体管密度达到每平方厘米包含百亿至千亿，对于验证工程师来说，这一数字意味着工作难度的进一步加大。事实上，随着集成电路设计日趋复杂，功能验证已经成为集成电路设计的瓶颈。

随机测试生成技术是当今大规模集成电路仿真验证流程中的重要支撑技术。在集成电路验证领域，特别是微处理器功能验证领域，它具有重要地位。但是，大量随机产生的测试向量也会造成验证功能点的重复覆盖，并且测试向量的无谓重复只会延长功能验证的收敛时间，降低验证效率。因此，合理地精简随机生成的测试向量是减少重复测试向量、加速功能验证收敛的重要目标。

发明内容

本发明提供一种随机验证方法和系统，要解决的技术问题是如何提高随机验证的效率。

为解决上述技术问题，本发明提供了如下技术方案：

一种随机验证方法，包括：

在使用随机产生的测试激励验证测试对象的功能点过程中，记录在每个测试激励在运行前后所述测试对象的功能点的覆盖率，将使得覆盖率发生变化的测试激励保存到预先设置的有效激励信息中；

基于朴素贝叶斯模型，按照测试激励的属性，对所述有效激励信息中的测试激励进行分类，得到属性的分类模型；

采用聚类分析方法得到分类模型中各类属性对提高所述测试对象的功能点覆盖率的概率信息；

根据所述概率关系，选择所述分类模型中的至少一类属性作为随机生成测试激励的约束条件；

根据新确定的约束条件随机生成新的测试激励。

优选的，所述方法还具有如下特点：所述将使得覆盖率发生变化的测试激励保存到预先设置的有效激励信息中之后，还包括：

获取有效测试中各测试激励对象引发的状态转移操作信息；

如果有效激励信息中有至少两个测试激励的状态转移操作信息相同，则仅保留其中一条测试激励在有效激励信息中，得到简化后的有效激励信息，将该简化后的有效测试激励作为待分类的有效激励信息。

优选的，所述方法还具有如下特点：所述状态转移操作信息包括：引发该测试结果的输入消息、接收该输入消息时测试对象所在系统中的寄存器取值、处理该输入消息后的寄存器取值以及系统处理该输入消息后所产生的输出消息。

优选的，所述方法还具有如下特点：所述对所述有效激励信息中的测试激励进行分类，得到属性的分类模型，包括：

将引发所述有效测试信息中状态转移操作的全部测试激励划分成M个部分；

基于朴素贝叶斯模型对第j部分中的测试激励进行分类，得到第j部分的分类模型；

判断第j+1部分中的测试激励是否第j部分的分类模型；

采用第j+1部分中不属于第j部分的分类模型的测试激励对第j部分的分类模型进行更新，得到第j+1部分的分类模型；

直到得到第M部分的分类模型，将第M部分的分类模型作为所需的测试激励的分类模型；

其中j为大于或等于1的整数，M为大于或等于2的整数。

优选的，所述方法还具有如下特点：在生成测试激励过程中，如果测试激励中访存事物处理过程中会产生至少两条消息，则测试激励中访问事物的延时属性是一取值范围，该取值范围是传输该访问事物的消息的信道的延时信息。

一种随机验证系统，包括：

保存装置，用于在使用随机产生的测试激励验证测试对象的功能点过程中，记录在每个测试激励在运行前后所述测试对象的功能点的覆盖率，将使得覆盖率发生变化的测试激励保存到预先设置的有效激励信息中；

分类装置，用于基于朴素贝叶斯模型，按照测试激励的属性，对所述有效激励信息中的测试激励进行分类，得到属性的分类模型；

第一处理装置，用于采用聚类分析方法得到分类模型中各类属性对提高所述测试对象的功能点覆盖率的概率信息；

确定装置，用于根据所述概率关系，选择所述分类模型中的至少一类属性作为随机生成测试激励的约束条件；

生成装置，用于根据新确定的约束条件随机生成新的测试激励。

优选的，所述系统还具有如下特点：所述系统还包括：

获取装置，用于获取有效测试中各测试激励对象引发的状态转移操作信息；