[发明专利]中央处理器参数的测试方法及其测试设备

权利要求书

1.一种测试设备，其特征在于，其包括一主电路板、一连接器与一测试模组，该连接器与该测试模组设置于该主电路板上，该测试模组经由该连接器与主电路板电连接，该主电路板、该连接器与测试模组配合用于测试一待测试的中央处理器的电源性能参数，该连接器包括若干连接端，该若干连接端中包括至少一第一电源端，该至少一电源端用于连接对应该中央处理器的至少一电源引脚，该测试模组用于测试该中央处理器对应该至少一第一电源端的电源性能参数。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，该测试模组包括有至少一测试端，该测试端电连接于该第一电源端，并且该至少一测试端的数目大于或等于该至少一第一电源端的数目。

3.根据权利要求2所述的测试设备，其特征在于，除与该至少一第一电源端相连的该至少一测试端以外，该测试模组的其他测试端处于悬空状态。

4.根据权利要求3所述的测试设备，测试模组的该至少一测试端与连接器的多个第一电源端的设置位置相对应。

5.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，该连接器的若干连接端与该中央处理器的若干引脚的功能保持一致。

6.根据权利要求1至5任意一项所述的测试设备，其特征在于，该测试设备提供一预定程序使得该中央处理器处于不同的工作阶段，该测试模组测试该该中央处理器处于不同工作阶段的电源性能参数。

7.根据权利要求6所述的测试设备，其特征在于，该测试设备还包括一采样单元、一处理单元、一显示单元以及一计时单元，该计时单元用于对该中央处理器所处的工作阶段进行计时，该采样单元用于在计时完成后自该至少一测试端采集对应该中央处理器的电源性能参数，并且将采集结果输出至该处理单元，该处理单元用于对该采集结果进行运算处理，该显示单元用于对该采样结果进行显示。

8.一种测试方法，以用于测试一中央处理器的电源性能参数，其特征在于，包括以下步骤：

提供一如权利要求1所述的测试设备；

将该中央处理器与该测试设备连接；

提供一电源信号至该测试设备与该中央处理器；及

该测试设备测试该中央处理器的电源性能参数。

9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，该电源性能参数包括有该中央处理器至该至少一电源引脚输入的电压值与电流值以及将该电压值与该电流值作运算处理后的功率值。

10.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，该测试设备提供预定程序至该中央处理器以使得该中央处理器分别处于不同的工作阶段，该测试设备分别测试该中央处理器处于不同工作阶段的电源性能参数。