[发明专利]寄存器调试方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及芯片设计及调试领域，尤其涉及一种寄存器调试方法及装 置。

背景技术

在芯片设计、调试、应用过程中，最多的工作就是对各种状态下的寄存 器进行调试。目前，普遍的寄存器调试工具只提供了简单的寄存器读写、 寄存器说明或者寄存器批量读写等操作，在问题定位上主要依靠调试者的 经验和知识。

在现有技术下，寄存器调试工具只提供了调试操作，但是没有对寄存器 调试结果进行直观的显示。调试者调试芯片中的寄存器时，如果经验不够丰 富，对很多问题不够熟悉，那么就很难快速、准确地定位问题所在。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术的缺陷，提供一种寄存器调试方法及装 置，从而直观地显示出芯片当前的工作状态和需要对比的工作状态之间的差 别，快速、准确地定位问题所在。

一方面，本发明提供了一种寄存器调试方法，所述寄存器调试方法包 括：

将需要比对的第一寄存器数据存储到缓存中，并且将该第一寄存器数据 显示在显示窗中；

读取寄存器中的第二寄存器数据；

对比所述第二寄存器数据和从所述缓存读取的第一寄存器数据，如不同 则在所述显示窗中突出显示所述第二寄存器数据。

另一方面，本发明还提供了一种寄存器调试装置，所述寄存器调试装置 包括：

存储单元，用于将需要比对的第一寄存器数据存储到缓存中，并且将该 第一寄存器数据显示在显示窗中；

读取单元，用于读取寄存器中的第二寄存器数据；

比对单元，用于对比所述第二寄存器数据和从所述缓存读取的第一寄存 器数据，如不同则在所述显示窗中突出显示所述第二寄存器数据。

本发明实施例的寄存器调试方法和装置通过调试装置的视图来直观地显 示出芯片当前的工作状态和需要对比的工作状态之间的差别。通过这种直观 的界面提示，可以提高定位问题的速度，找到解决问题的最佳途径。

附图说明

图1为本发明的寄存器调试方法实施例一的方法流程图；

图2为本发明的寄存器调试方法实施例二的方法流程图；

图3为本发明的寄存器调试方法实施例三的方法流程图；

图4为本发明的寄存器调试方法实施例四的方法流程图；

图5为本发明的寄存器调试的一个实施例示意图；

图6为本发明的寄存器调试装置实施例的示意图；

图7为本发明的寄存器调试装置的显示窗示意图。

具体实施方式

本发明实施例中，调试装置将寄存器按地址顺序在显示窗中进行排列显 示。将将需要比对的第一寄存器数据存储到缓存中，并且将该第一寄存器数 据显示在显示窗中，读取寄存器中的第二寄存器数据，对比所述第二寄存器 数据和从所述缓存读取的第一寄存器数据，如不同则在所述显示窗中突出显 示所述第二寄存器数据。

本发明实施例借助直观的彩色标识界面显示出了结果差异，直观地显示 和定位出目前芯片工作状态和需要对比的工作状态之间的差别，从而迅速定 位问题所在，极大地提高问题定位速度和问题解决速度

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。

图1为本发明的寄存器调试方法实施例一的方法流程图，具体包括如下 步骤：

步骤110，将本地寄存器配置文件作为第一寄存器数据读入缓存，并将 该第一寄存器数据以相同的颜色显示在调试装置的显示窗中。所述第一寄存 器数据为寄存器的目标工作状态。将第一寄存器数据读入缓存是为了让调试 装置在调试寄存器时，能够更加快速地读取第一寄存器数据。

步骤120，读取寄存器中的第二寄存器数据。所述第二寄存器数据为寄 存器的当前工作状态。

步骤130，对比所述第二寄存器数据和从所述缓存读取的第一寄存器数 据。比对结果若相同，则执行步骤141，若不相同，则执行步骤142。根据比 对结果，即可知道芯片寄存器的当前工作状态与目标工作状态之间的差异， 从而确定芯片的工作是否存在问题，并定位出存在问题的寄存器。

步骤141，如果步骤130比对出的结果为相同，则保持显示窗中的第一 寄存器数据及背景色不变。