[发明专利]非接触数据存储设备的检测

权利要求书

1.一种检测用于发射电磁场(3)的天线的通信范围内非接触数据存储设备(2)的检测电路(10)，该非接触数据存储设备被构造用以与电磁场(3)进行电感耦合，检测电路(10)具有用于连接天线(4)和用于电磁场脉冲(30)发射期间检测天线(4)处的反馈信号的连接器，

其中检测电路(10)进一步被构造用以在电磁场脉冲(30)开始时载波振荡的振幅增长(ta)过程中基于反馈信号产生评价信号，并

基于振幅增长(ta)过程中产生的评价信号和阈值检测通信范围内的数据存储设备(2)。

2.根据权利要求1的检测电路(10)，其中检测电路(10)被构造以基于评价信号确定振幅增长的斜率，以及基于阈值和振幅增长的斜率检测通信范围内的数据存储设备(2)。

3.根据权利要求1或2的检测电路(10)，其中检测电路(10)被构造以在电磁场脉冲(30)开始时振荡的振幅增长过程中，基于反馈信号和比较值的比较产生用作比较信号的评价信号，以及基于振幅增长(ta)过程中产生的比较信号和阈值检测数据存储设备(2)的存在。

4.根据权利要求3的检测电路(10)，其中检测电路(10)被构造以产生用于指示反馈信号的过度振荡的比较信号(Ucomp)，过度振荡具有大于比较值的振幅，以及基于振幅增长(ta)过程中限定时间间隔(tm)内过度振荡的数量和阈值检测数据存储设备(2)的存在。

5.根据权利要求1或2的检测电路(10)，其中检测电路(10)包括模数转换器(18)和用于使天线(4)与模数转换器(18)的输入端相连的Villard电路(VC)，Villard电路(VC)被构造以在电磁场脉冲(30)开始时振荡的振幅增长(ta)过程中，通过电流积分和将反馈信号从天线(4)换位到模数转换器(18)的限定操作范围产生评价信号(Vint)，并且检测电路(10)被构造以基于由模数转换器在从振幅增长(ta)过程中限定点处实时(tm)的评价信号(Vint)产生的数字值检测数据存储设备(2)的存在。

6.根据权利要求3的检测电路(10)，其中检测电路(10)被构造以产生用于指示反馈信号的定相的比较信号(UantCmos)，以便确定比较信号和电磁场脉冲(30)的载波振荡之间的相移，以及基于相移和阈值检测数据存储设备(2)的存在。

7.根据权利要求6的检测电路(10)，其中检测电路(10)包括异或元件(16)，其用于由比较信号(UantCmos)和电磁场脉冲(30)的载波振荡(Ufc)中产生相位信号(UphaseShift)，相位信号表示比较信号(UantCmos)和电磁场脉冲(30)的载波振荡(Ufc)之间相移，并且检测电路(10)被构造以由相位信号(UphaseShift)中为电磁场脉冲(30)确定平均相移，以及基于电磁场脉冲(30)的平均相移和阈值检测数据存储设备(2)的存在。

8.根据权利要求1至7之一的检测电路(10)，其中检测电路(10)被构造以基于指示通信范围内物体的增强效应的上阈值以及指示通信范围内物体的衰减效应的下阈值检测数据存储设备(2)。

9.根据权利要求1至8之一的检测电路(10)，其中检测电路(10)被构造以根据之前发射的电磁场脉冲(30)的振幅增长(ta)过程中所产生的评价信号动态地限定阈值。

10.一种在用于发射电磁场(3)的天线(4)的通信范围内检测非接触数据存储设备(2)的方法，非接触数据存储设备被构造用以与电磁场(3)进行电感耦合，该方法包括：

在电磁场脉冲(30)发射过程中，在天线(4)处检测反馈信号(S1)，

在电磁场脉冲(30)开始时载波振荡的振幅增长(ta)过程中，基于反馈信号产生评价信号(S2)，和

基于振幅增长(ta)过程中产生的评价信号和阈值检测通信范围内的数据存储设备(2)(S3)。

11.根据权利要求10的方法，进一步包括是基于评价信号确定振幅增长的斜率(S31)，并且基于阈值和振幅增长的斜率检测通信范围内的数据存储设备(2)。