[发明专利]一种掺氮氧化锌薄膜的制备方法有效
申请号: | 201110287076.3 | 申请日: | 2011-09-23 |
公开(公告)号: | CN102304700A | 公开(公告)日: | 2012-01-04 |
发明(设计)人: | 刘键;饶志鹏;万军;夏洋;李超波;陈波;黄成强;石莎莉;李勇滔 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | C23C16/40 | 分类号: | C23C16/40;H01L21/365;H01L31/0296;H01L31/18 |
代理公司: | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘丽君 |
地址: | 100029 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氧化锌 薄膜 制备 方法 | ||
1.一种掺氮氧化锌薄膜的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤(1),将硅衬底放置于原子层沉积设备反应腔中;
步骤(2),向所述原子层沉积设备反应腔中通入含锌源气体,所述含锌源气体中的锌原子吸附在所述硅衬底上;
步骤(3),以氮气为载气向原子层沉积设备反应腔中输送氢气,同时进行等离子体放电,所述氮气电离后部分氮原子与部分所述锌原子形成共价键,氮原子未成键的电子和电离的氢原子成键;
步骤(4),向原子层沉积设备反应腔中通入含氧源,未与所述氮原子反应的锌原子与所述含氧源中的氧原子形成锌氧键;
步骤(5),重复步骤(2)、(3)、(4)即可逐层生长含氮原子的氧化锌薄膜。
2.如权利要求1所述的掺氮氧化锌薄膜的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)之前还包括:所述硅衬底的表面经过标准液和氢氟酸处理,在所述硅衬底的表面形成硅氢键。
3.如权利要求1所述的掺氮氧化锌薄膜的制备方法,其特征在于,所述步骤(2)中的含锌源气体为氯化锌。
4.如权利要求1所述的掺氮氧化锌薄膜的制备方法,其特征在于,所述步骤(3)中氮气的流量为1sccm-1000sccm,进气时间为0.1s-1s,反应时间为1s-10s,清洗时间为5s-60s,基盘温度为100℃-500℃。
5.如权利要求4所述的掺氮氧化锌薄膜的制备方法,其特征在于,所述步骤(3)中氮气的流量为15sccm,进气时间为1s,反应时间为5s,清洗时间为20s,基盘温度为300℃。
6.如权利要求1所述的掺氮氧化锌薄膜的制备方法,其特征在于,所述步骤(3)中氢气的流量为1sccm-6sccm,等离子体放电功率为1W-100W,放电时间为1s-10s。
7.如权利要求6所述的掺氮氧化锌薄膜的制备方法,其特征在于,所述步骤(3)中等离子体放电功率为40W,放电时间为3s。
8.如权利要求1所述的掺氮氧化锌薄膜的制备方法,其特征在于,所述步骤(4)中的含氧源为水。
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