[发明专利]一种在细长管道内壁镀制薄膜的方法无效

专利信息
申请号: 201110283626.4 申请日: 2011-09-22
公开(公告)号: CN102337520A 公开(公告)日: 2012-02-01
发明(设计)人: 熊玉卿;任妮;王多书;王济洲;冯煜东;刘恒;马占吉 申请(专利权)人: 中国航天科技集团公司第五研究院第五一○研究所
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44;C23C16/20;C23C16/40;C23C16/34
代理公司: 甘肃省知识产权事务中心 62100 代理人: 张英荷
地址: 730000*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要:
搜索关键词: 一种 细长 管道 内壁 薄膜 方法
【权利要求书】:

1.一种在细长管道内壁镀制薄膜的方法,包括以下工艺步骤:

(1)将需镀膜的细长管道置于与管道相适配的反应室内,将反应室抽真空;

(2)以脉冲形式向反应室内通入第一种气相前驱体A,在需镀膜的管道内表面以化学吸附形成一个单吸附层;

(3)向反应室内通入惰性气体,将未吸附的多余前驱体A排除;

(4)以脉冲形式向反应室内通入第二种气相前驱体B,与前驱体A反应,在需镀膜的管道内表面生成一个单原子层;

(5)向反应室内通入惰性气体,将未反应的多余前驱体B排除;

(6)重复上述步骤(2)~(5),每重复一次,生成一个单原子层,直到膜层厚度满足要求为止。

2.如权利要求1所述在细长管道内壁镀制薄膜的方法,其特征在于:步骤(1)所述反应室中的真空度为1×10-2Pa~1×10-3Pa。

3.如权利要求1所述在细长管道内壁镀制薄膜的方法,其特征在于:步骤(2)所述气相前驱体A为AlMe3、TiCl4、Cu(acac)2、ZrCl4、HfCl4、Pt(acac)2、WF6、TaCl5、SnCl4、InCl3、CdMe2、MoCl5、GaCl3、ZnCl2、SiCl4、CCl3、BCl3

4.如权利要求1所述在细长管道内壁镀制薄膜的方法,其特征在于:步骤(2)所述气相前驱体A的流量为10~50sccm,脉冲持续时间为2~10s。

5.如权利要求1所述在细长管道内壁镀制薄膜的方法,其特征在于:步骤(3)所述惰性气体为氩气,其流量为20~50sccm,持续时间为5~30s。

6.如权利要求1所述在细长管道内壁镀制薄膜的方法,其特征在于:步骤(4)所述气相前驱体B可以为气态H2O、H2、NH3、O2、N2、H2S、AsH3、PH3、H2S、H2Se、HF。

7.如权利要求1所述在细长管道内壁镀制薄膜的方法,其特征在于:步骤(4)所述气相前驱体B的流量为10~50sccm,脉冲持续时间为2~10s。

8.如权利要求1所述在细长管道内壁镀制薄膜的方法,其特征在于:步骤(5)所述惰性气体为氩气,其流量为20~50sccm,持续时间为5~30s。

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