[发明专利]频率校正方法及系统

说明书

  

技术领域

本发明关于一种频率校正方法及系统，更特别的是关于一种可快速且精确地取得准确频率值以供校正的频率校正方法及系统。

背景技术

许多电子设备中皆具有频率产生单元，用以基于一预定频率值来提供一频率信号的输出，为了确定此频率信号的正确性，传统上会外接一计频仪来进行校验，此计频仪为一种特殊的校验仪器，相较于电子设备通常较为庞大而使得校验工作必须在特殊场合及时间下才能进行，且无法达到快速的校验。

此外，计频仪中对于频率信号的量测通常是设定一闸门时间，利用闸门时间内对频率信号的周期数进行计数，再利用计数值/闸门时间来取得频率信号的频率。

然而，由于闸门时间内的频率信号的周期数量通常不会是整数值，因此，此种方式容易在闸门时间的开始与结束处造成误差，例如：少计数半个周期数或多计数半个周期数等。基于此，一般在进行频率量测时，会将闸门时间尽量拉长以涵盖较多的周期数，由此将误差降低，但这样的方式却会大幅增加测试的时间，若量测周期数少，解析度也因闸门时间的短暂而降低。

发明内容

本发明的一目的在于可提高频率量测的速度及量测的准确性。

本发明的另一目的在于可提供全自动程式控制之频率校正方法及系统。

本发明的再一目的在于可使电子设备本身即具有自我校正功能。

为达上述目的及其他目的，本发明提出一种频率校正方法，其用于校正一设备的频率产生单元基于一预定频率值的下所产生的一频率信号，该方法包含：提供一参考信号；基于该参考信号产生具相同频率的多个相位移信号，该等相位移信号间间隔一固定相位；设定一时脉遮罩，其起始于该频率信号的一第一触发状态，终止于该频率信号的另一个第一触发状态；在该时脉遮罩的起始时序点至该参考信号发生第一触发状态的时间区间内，计数该等相位移信号发生第二触发状态的次数Nd1；在该时脉遮罩的时间区间内，基于该第一触发状态，计数该参考信号发生的周期次数Nb；在该时脉遮罩的时间区间内，基于该第一触发状态，计数该频率信号发生的周期次数Ni；在该时脉遮罩的终止时序点至该参考信号发生第一触发状态的时间区间内，计数该等相位移信号发生第二触发状态的次数Nd2；及依后式取得该频率信号的频率值Fi，Fi＝{Ni/[Nb＋(Nd/M)]}×Fb；及该频率修正单元基于该预定频率值与该频率信号的频率值Fi间的差值，调整该频率产生单元的输出，使该频率产生单元产生的该频率信号的实际频率值与该预定频率值相符，其中，Fb为该参考信号的频率，Fb＞Fi，Nd＝(Nd1－Nd2)，M为该等相位移信号的个数，M≧2。

为达上述目的及其他目的，本发明还提出一种频率校正系统，其用于校正一设备的频率产生单元基于一预定频率值的下所产生的一频率信号，该系统包含：一频率信号输入端，其连接该频率产生单元，用于接收该频率信号；一计数产生器，其连接该频率信号输入端以接收该频率信号，以及用于产生频率为Fb的一参考信号，并基于该参考信号产生具相同频率且彼此互相间隔一固定相位的M个相位移信号，以及用于产生起始于该频率信号的一第一触发状态且终止于该频率信号的另一个第一触发状态的一时脉遮罩，以及用于在该时脉遮罩的起始时序点至该参考信号发生第一触发状态的时间区间内计数该等相位移信号发生第二触发状态的次数Nd1，以及用于在该时脉遮罩的时间区间内基于该第一触发状态计数该参考信号发生第一触发状态的次数Nb，以及用于在该时脉遮罩的时间区间内基于该第一触发状态计数该频率信号发生第一触发状态的次数Ni，以及用于在该时脉遮罩的终止时序点至该参考信号发生第一触发状态的时间区间内计数该等相位移信号发生第二触发状态的次数Nd2，以及用于输出该等数值Fb、M、Nb、Ni、Nd1、及Nd2；及一运算装置，其连接该计数产生器，用于接收该等数值并依后式进行运算以取得该频率信号的频率值Fi，Fi＝{Ni/[Nb＋(Nd/M)]}×Fb；及一频率修正单元，其连接该运算装置及该频率产生单元，用于基于该预定频率值与该频率信号的频率值Fi间的差值，调整该频率产生单元的输出，使该频率产生单元产生的该频率信号的频率值与该预定频率值相符，其中，Fb＞Fi，Nd＝(Nd1－Nd2)，M≧2。

在一实施例中，该计数产生器包含：一基频产生单元，其用于产生一基频信号；一倍频单元，其连接该基频产生单元，用于将该基频信号倍频为该参考信号；及一可编程闸阵列，其连接该频率信号输入端以接收该频率信号，以及连接该倍频单元以接收该参考信号，以及用于产生该等数值M、Nb、Ni、Nd1、及Nd2并输出该等数值Fb、M、Nb、Ni、Nd1、及Nd2。