[发明专利]双路型切变应力测定方法及装置

权利要求书

1.一种双路型切变应力测定方法，其特征在于，在该双路型切变应力测定方法中，组合将激光光照射到安装在试样的下部表面保持体的底面的反射镜，根据来自所述反射镜的反射光的相位变化来对所述试样的表面间距离位移进行测定的双路表面间距离测定方法和根据共振曲线来对所述试样的粘弹性以及摩擦·润滑特性进行测定的测定法，对试样的切变应力进行测定。

2.一种双路型切变应力测定装置，其特征在于，该双路型切变应力测定装置具有：

(a)精密切变装置，使试样的上部表面保持体沿着水平方向位移；

(b)位移计，对所述试样的上部表面保持体的向水平方向的位移进行检测；

(c)由板簧构成的所述试样的下部表面固定单元，在前端保持所述试样的下部表面保持体且具有在所述下部表面保持体的底面配置的反射镜；

(d)驱动装置，驱动该下部表面固定单元来对所述试样的下部表面保持体沿着上下进行驱动；和

(e)双路表面间距离测定单元，向所述反射镜照射激光光，根据来自所述反射镜的反射光的相位变化对所述试样的上部表面和所述试样的下部表面间的距离进行测定，其中，

(f)对所述试样的上部表面和所述试样的下部表面间的每个距离的所述试样的粘弹性以及摩擦·润滑特性进行测定。

3.根据权利要求2所述的双路型切变应力测定装置，其特征在于，根据所述试样的共振曲线来对所述试样的粘弹性以及摩擦·润滑特性进行测定。

4.根据权利要求2或3所述双路型切变应力测定装置，其特征在于，所述试样为透明试样或不透明试样。

5.根据权利要求2或3所述的双路型切变应力测定装置，其特征在于，所述试样为液体薄膜。

6.根据权利要求2或3所述的双路型切变应力测定装置，其特征在于，所述试样为液晶薄膜。

7.根据权利要求2或3所述的双路型切变应力测定装置，其特征在于，所述试样为高分子·表面活性剂等吸附层、化学修饰膜。

8.根据权利要求2或3所述的双路型切变应力测定装置，其特征在于，所述试样的上部表面保持体以及下部表面保持体中的一方或两方为不透明基板。