[发明专利]晶舟封装有效
申请号: | 201110280003.1 | 申请日: | 2011-08-22 |
公开(公告)号: | CN102956529A | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
发明(设计)人: | C·G·M·德里德;E·哈尔托赫登-贝斯林克;A·加尔森 | 申请(专利权)人: | 阿斯莫国际公司 |
主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘兴鹏 |
地址: | 荷兰阿*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 封装 | ||
1.晶舟封装(1),包括:
-支架(10),包括:
-至少一根基本竖直延伸的杆件(12),在沿着该杆件长度的多个隔开位置限定了多个副载体安装位置(16),每个位置都提供了至少一个副载体安装装置(14);
-至少一块碎屑收集板(20),与所述至少一根杆件(12)相连,使得所述至少一块碎屑收集板(20)基本垂直于所述至少一根杆件(12)延伸,且每两个相邻的副载体安装位置(16)之间设有一块碎屑收集板(20);
-多个副载体(30),每个被配置成保持多个基本竖直定向的、水平隔开的平面基底(40),且每个都能通过相应的副载体安装装置(14)以可拆卸方式安装在支架(10)的副载体安装位置(16);
当副载体(30)被安装在支架(10)上相应的副载体安装位置(16)上时,每块碎屑收集板(20)提供在安装于相应的相关副载体安装位置(16)处的副载体(30)下面延伸的碎屑收集区(22),其至少跨越副载体的所占区域。
2.根据权利要求1所述的晶舟封装(1),碎屑收集板(20)的深度等于或大于相邻碎屑收集板之间的竖直距离(d)。
3.根据权利要求1和2中任一项所述的晶舟封装,每块碎屑收集板为大致矩形形状。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的晶舟封装,其中所述碎屑收集板(20)的碎屑收集区域(22)为密闭区域。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的晶舟封装,其中每个副载体(30)包含两块隔开的侧板(32),所述侧板(32)由相互平行的晶片支承杆件(34,36)互连起来。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的晶舟封装,其中支架(10)的副载体安装装置(14)具有下列特征之一:设置在所述至少一根杆件(12)上的凹槽,以及设置在所述至少一根杆件(12)上的突起;以及
每个副载体(30)具有所述凹槽和突起中的另一个,与所述副载体安装装置(14)协作起支承作用。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的晶舟封装,其中每个副载体(30)保持着多个基本竖直定向的、水平隔开的平面基底(40),
其中,每个副载体(30)以可拆卸方式安装在支架(10)的副载体安装位置(16)上,并且其中,
每块碎屑收集板(20)至少延伸跨越其所保持的相关副载体和基底的组合占地区域。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造