[发明专利]上压式发光二极管测试方案

说明书

技术领域

本发明涉及一种发光二极管测试方案，进一步涉及一种上压式的发光二极管测试方案。

背景技术

发光二极管LED的光学参数中重要的几个方面就是：光通量、发光效率、发光强度、光强分布、波长。发光效率表征了光源的节能特性，这是衡量现代光源性能的一个重要指标。因此，在二极管出厂前必须对二极管进行测试。

目前市场上侧发光型贴片发光二极管的测试方案均是由吸嘴将发光二极管吸附在圆盘上，然后将圆盘整体下压，使发光二极管的引脚与下面的探针组件接触，从而使发光二极管通电发光，用侧面安装的检测装置对发光二极管进行测试。

现有方案是将发光二极管吸附在装有缓冲器(如弹簧)的圆盘上，并随之整体下压，使发光二极管与测试探针接触，通电检测。

此种方案最大的缺点是在下压的过程中由于发光二极管处于悬空状态，与探针接触后可能发生倾斜，造成引脚接触不良的情况，从而造成死灯(良品灯无法点亮)或者正向电压(VF)测试不准的现象，引起整个测试系统重复性、再现性不足的情况。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种侧发光型贴片发光二极管测试方案测试重复性好、再现性优良的测试方案。

本发明提供一种发光二极管立式测试方案，该方案包括：

首先，使用相应的震动盘，对侧发光型贴片发光二极管进行筛选，使所有侧发光型贴片发光二极管均以引脚朝上平躺的方式进入震动盘最前端；

然后通过专门的上料结构，将发光二极管放到转动工作盘的吸嘴上，吸嘴通过真空将发光二极管无引脚的一面吸附在吸嘴上端面上，发光二极管发光面朝外；

当发光二极管随转动工作盘转动到测试工作站时，测试探针从上向下压，接触发光二极管的引脚，使其通电发光，检测装置从外侧对其进行检测。

与现有技术相比，本发明的优点在于：

(1)侧发光式贴片发光二极管与吸嘴接触，不再处于悬空的状态；

(2)探针下压时，发光二极管位置相对固定，不会发生死灯或电压测试不准的情况，大大提高了整机测试的重复性、再现性。

下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的描述。

附图说明

图1是本发明发光二极管上压式测试方案的流程图。

具体实施方式

请参阅图1，本发明所提供较佳实施例的一种发光二极管上压式测试方案，该方案包括：

本发明提供一种发光二极管上压式测试方案，该方案包括：

首先，使用相应的震动盘，对侧发光型贴片发光二极管进行筛选，使所有侧发光型贴片发光二极管均以引脚朝上平躺的方式进入震动盘最前端；

然后通过专门的上料结构，将发光二极管放到转动工作盘的吸嘴上，吸嘴通过真空将发光二极管无引脚的一面吸附在吸嘴上端面上，发光二极管发光面朝外；

当发光二极管随转动工作盘转动到测试工作站时，测试探针从上向下压，接触发光二极管的引脚，使其通电发光，检测装置从外侧对其进行检测。

本发明主要针对发光二极管测试方案所进行的改进，以上所述仅为本发明较佳实施例而已，非因此即局限本发明的专利范围，故举凡用本发明说明书及图式内容所为的简易变化及等效变换，均应包含于本发明的专利范围内。