[发明专利]一种静态干涉成像偏振仪及获得目标的偏振信息的方法有效

专利信息
申请号: 201110271707.2 申请日: 2011-09-15
公开(公告)号: CN102426058A 公开(公告)日: 2012-04-25
发明(设计)人: 张淳民;吴海英;祝莹莹;朱化春 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01J4/00 分类号: G01J4/00;G01J3/447;G01J3/45
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 陆万寿
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 静态 干涉 成像 偏振 获得 目标 信息 方法
【权利要求书】:

1.一种静态干涉成像偏振仪,其特征在于:包括沿入射光方向依次设置的前置望远系统(1)、调制延迟器(2)、偏振干涉仪(3)、光学收集透镜(4)、面阵探测器(5)和计算机处理系统(6),所述调制延迟器(2)由第一延迟器(21)和第二延迟器(22)组成;所述偏振干涉仪(3)由起偏器(31)、萨瓦尔偏光镜(32)和检偏器(33)组成;

其中由目标发出的入射光经前置望远系统(1)准直后进入调制延迟器(2),经过调制延迟器(2)后成为加载有调制信息的出射光,该出射光再通过偏振干涉仪(3)变成两束振动平行且传播方向平行于入射光方向的线偏振光,该线偏振光经过收集透镜(4)后发生干涉并汇聚于面阵探测器(5)上,再经计算机处理系统(6)处理获得目标的形影信息、光谱信息和偏振信息。

2.根据权利要求1所述的静态干涉成像偏振仪,其特征在于:所述的第一延迟器(21)与第二延迟器(22)的厚度比例为1∶2。

3.根据权利要求1所述的静态干涉成像偏振仪,其特征在于:所述的第一延迟器(21)的快轴方向与第二延迟器(22)的快轴方向的夹角为45°。

4.根据权利要求2所述的静态干涉成像偏振仪,其特征在于:所述起偏器(31)和检偏器(33)的透光方向与第一延迟器(21)的快轴方向平行。

5.一种根据权利要求1所述的静态干涉成像偏振仪获得目标的偏振信息的方法,其特征在于:所述的方法按照以下步骤进行:

步骤一:由公式(1)获得静态干涉成像偏振仪的Mueller矩阵M:

M=14[1+cosδ]1010000010100000---(1);]]>

其中δ=2πΔσ,为Savart偏光镜中两束光之间的相位差;Δ为Savart偏光镜中两束光之间的光程差;σ=1/λ为波数,取决于光谱仪的波长响应范围;

步骤二:由公式(2)获得入射光经过调制延迟器和偏振干涉仪前后的Stokes矢量:

Sout=MSavartMПMISin          (2);

式中MI、MП和MSavart分别为第一延迟器、第二延迟器和偏振干涉仪的Mueller矩阵,设M=MSavartMПMI为总的Mueller矩阵;Sout代表入射光经过偏振干涉仪后的Stokes矢量;Sin代表入射光经过调制延迟器前的Stokes矢量;

步骤三:将调制延迟器的相位差和波数σ之间的关系由(3)式表示:

其中和分别表示光线经过第一延迟器、第二延迟器的相位延迟量,σ=1/λ为波数取决于光谱仪的波长响应范围;Δn为延迟器中o光和e光之间的折射率差;dj为延迟器的厚度;

步骤四:令

Sin=IMCS,]]>Sout=IMCS]]>

其中I代表入射光的总光强;M代表水平方向、垂直方向的强度差;C代表入射光45°方向与135°方向的强度差;S代表入射光右旋方向与左旋方向的强度差;I′代表出射光的总光强;M′代表出射光水平方向、垂直方向的强度差;C′代表出射光45°方向与135°方向的强度差;S′代表出射光右旋方向与左旋方向的强度差;由式Sout=MSavartMПMISin获得出射光的强度谱I′为:

其中强度谱I′为入射光Stokes矢量元素谱经不同频率载波调制后的线性叠加;

步骤五:对I′进行傅立叶变换即可获得入射光的Stokes矢量,从而获得目标的偏振信息。

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