[发明专利]一种静态干涉成像偏振仪及获得目标的偏振信息的方法有效
申请号: | 201110271707.2 | 申请日: | 2011-09-15 |
公开(公告)号: | CN102426058A | 公开(公告)日: | 2012-04-25 |
发明(设计)人: | 张淳民;吴海英;祝莹莹;朱化春 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01J4/00 | 分类号: | G01J4/00;G01J3/447;G01J3/45 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 陆万寿 |
地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 静态 干涉 成像 偏振 获得 目标 信息 方法 | ||
1.一种静态干涉成像偏振仪,其特征在于:包括沿入射光方向依次设置的前置望远系统(1)、调制延迟器(2)、偏振干涉仪(3)、光学收集透镜(4)、面阵探测器(5)和计算机处理系统(6),所述调制延迟器(2)由第一延迟器(21)和第二延迟器(22)组成;所述偏振干涉仪(3)由起偏器(31)、萨瓦尔偏光镜(32)和检偏器(33)组成;
其中由目标发出的入射光经前置望远系统(1)准直后进入调制延迟器(2),经过调制延迟器(2)后成为加载有调制信息的出射光,该出射光再通过偏振干涉仪(3)变成两束振动平行且传播方向平行于入射光方向的线偏振光,该线偏振光经过收集透镜(4)后发生干涉并汇聚于面阵探测器(5)上,再经计算机处理系统(6)处理获得目标的形影信息、光谱信息和偏振信息。
2.根据权利要求1所述的静态干涉成像偏振仪,其特征在于:所述的第一延迟器(21)与第二延迟器(22)的厚度比例为1∶2。
3.根据权利要求1所述的静态干涉成像偏振仪,其特征在于:所述的第一延迟器(21)的快轴方向与第二延迟器(22)的快轴方向的夹角为45°。
4.根据权利要求2所述的静态干涉成像偏振仪,其特征在于:所述起偏器(31)和检偏器(33)的透光方向与第一延迟器(21)的快轴方向平行。
5.一种根据权利要求1所述的静态干涉成像偏振仪获得目标的偏振信息的方法,其特征在于:所述的方法按照以下步骤进行:
步骤一:由公式(1)获得静态干涉成像偏振仪的Mueller矩阵M:
其中δ=2πΔσ,为Savart偏光镜中两束光之间的相位差;Δ为Savart偏光镜中两束光之间的光程差;σ=1/λ为波数,取决于光谱仪的波长响应范围;
步骤二:由公式(2)获得入射光经过调制延迟器和偏振干涉仪前后的Stokes矢量:
Sout=MSavartMПMISin (2);
式中MI、MП和MSavart分别为第一延迟器、第二延迟器和偏振干涉仪的Mueller矩阵,设M=MSavartMПMI为总的Mueller矩阵;Sout代表入射光经过偏振干涉仪后的Stokes矢量;Sin代表入射光经过调制延迟器前的Stokes矢量;
步骤三:将调制延迟器的相位差和波数σ之间的关系由(3)式表示:
其中和分别表示光线经过第一延迟器、第二延迟器的相位延迟量,σ=1/λ为波数取决于光谱仪的波长响应范围;Δn为延迟器中o光和e光之间的折射率差;dj为延迟器的厚度;
步骤四:令
其中I代表入射光的总光强;M代表水平方向、垂直方向的强度差;C代表入射光45°方向与135°方向的强度差;S代表入射光右旋方向与左旋方向的强度差;I′代表出射光的总光强;M′代表出射光水平方向、垂直方向的强度差;C′代表出射光45°方向与135°方向的强度差;S′代表出射光右旋方向与左旋方向的强度差;由式Sout=MSavartMПMISin获得出射光的强度谱I′为:
其中强度谱I′为入射光Stokes矢量元素谱经不同频率载波调制后的线性叠加;
步骤五:对I′进行傅立叶变换即可获得入射光的Stokes矢量,从而获得目标的偏振信息。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安交通大学,未经西安交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110271707.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。