[发明专利]图像处理方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种图像处理方法及系统，特别涉及一种用于自动光学检测（AOI，Automated Optical Inspection）的图像处理方法及系统。

背景技术

自动光学检测技术是近年来新兴的一种检测技术。当进行自动光学检测时，自动光学检测设备对PCB（Printed Circuit Board，印制电路板）进行拍摄，将所拍摄的图像参数与数据库中的标准参数进行比较，检查出PCB上的缺陷，并通过显示器或自动标志将该缺陷显示或标示出来，供维修人员修整。

然而，当需要同时检测PCB上的金属件（如金手指或铜片）和非金属件（如电阻的塑料壳）时，由于金属件的反光率高于非金属件的反光率，当以较长的曝光时间拍摄PCB时，拍摄得到的图像中非金属件将显示得更清楚，但金属件将因过曝而显得模糊，当以较短的曝光时间拍摄PCB时，图像中金属件将显示得更清楚，但非金属件将因欠曝而显得暗淡。因此，在所拍摄得到的图像无法同时清晰显示金属件和非金属件的情况下，自动光学检测的结果将会受到影响。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种图像处理方法，可以使图像同时清晰地显示金属件和非金属件，有助于提高自动光学检测结果的准确性。

还有必要提供一种图像处理系统，可以使图像同时清晰地显示金属件和非金属件，有助于提高自动光学检测结果的准确性。

一种图像处理方法，包括以下步骤：定位步骤：从主机的存储器中读取待测物体的设计图，根据该设计图确定各非金属件和金属件在该待测物体上的位置；获取步骤：控制摄像装置以预设的第一曝光时间对待测物体进行拍摄，获取拍摄得到的第一图像，并控制该摄像装置以预设的第二曝光时间对待测物体进行拍摄，获取拍摄得到的第二图像，该第一曝光时间大于该第二曝光时间；转换步骤一：将该第一图像和该第二图像转换为浮点图，然后对转换为浮点图以后的该第一图像和第二图像作亚像素处理；提取步骤：根据所述非金属件和金属件在待测物体上的位置，从该第一图像中提取各非金属件的图块，从该第二图像中提取各金属件的图块；拼接步骤：将所述各非金属件的图块与所述各金属件的图块按照该非金属件和金属件在待测物体上的位置拼接成第三图像；转换步骤二：将该第三图像由浮点图转换成整点图。

一种图像处理系统，包括：定位模块，用于从主机的存储器中读取待测物体的设计图，根据该设计图确定各非金属件和金属件在该待测物体上的位置；获取模块，用于控制摄像装置以预设的第一曝光时间对待测物体进行拍摄，获取拍摄得到的第一图像，并控制该摄像装置以预设的第二曝光时间对待测物体进行拍摄，获取拍摄得到的第二图像，该第一曝光时间大于该第二曝光时间；转换模块，用于将该第一图像和该第二图像转换为浮点图，然后对转换为浮点图以后的该第一图像和第二图像作亚像素处理；提取模块，用于根据所述非金属件和金属件在待测物体上的位置，从该第一图像中提取各非金属件的图块，从该第二图像中提取各金属件的图块；拼接模块，用于将所述各非金属件的图块与所述各金属件的图块按照该非金属件和金属件在待测物体上的位置拼接成第三图像；所述转换模块，还用于将该第三图像由浮点图转换成整点图。

相较于现有技术，本发明图像处理方法及系统，可以使图像同时清晰地显示金属件和非金属件，有助于提高自动光学检测结果的准确性。

附图说明

图1是本发明图像处理系统较佳实施例的运行环境图。

图2（A）至图2（C）是图像处理的一个示例图。

图3是本发明图像处理方法较佳实施例的流程图。

主要元件符号说明