[发明专利]测量方位角的装置及方法

权利要求书

1.一种测量方位角的装置，包括磁性传感器，其特征在于，所述磁性传感器用于测量同一方向上至少两个地理位置上的磁信号；

所述方位角测量装置还包括：

信号调理及模数A/D转换单元，与所述磁性传感器相连，用于对所述磁性传感器测量的至少两个磁信号进行A/D转换，得到所述至少两个磁信号的A/D采样数据；

微控制器，与所述信号调理及A/D转换单元相连，用于采用所述至少两个磁信号的A/D采样数据的差值对所述至少两个磁信号中的任一个磁信号的A/D采样数据进行校准，利用校准后的A/D采样数据计算方位角。

2.根据权利要求1所述的测量方位角的装置，其特征在于，还包括：

下倾角测量单元，与所述微控制器相连，用于测量所述测量方位角的装置的下倾角；

所述微控制器，还用于用所述下倾角测量单元测量的下倾角对所述至少两个磁信号的A/D采样数据进行下倾角补偿，使用补偿后的A/D采样数据进行校准。

3.根据权利要求1或2所述的测量方位角的装置，其特征在于，所述微控制器具体用于通过(x-kΔx)2+(y-kΔy)2+(z-kΔz)2=M]]>计算得到k值，计算出方位角其中，(x，y，z)为所述至少两个磁信号中的一个磁信号，(Δx，Δy，Δz)为所述差值，k为干扰磁信号的衰减或增加系数，M为无干扰的磁信号的幅值，(x-kΔx，y-kΔy，z-kΔz)为校准后的磁信号。

4.根据权利要求1或2所述的测量方位角的装置，其特征在于，所述磁性传感器为一个。

5.根据权利要求1或2所述的测量方位角的装置，其特征在于，所述磁性传感器至少有两个，分别位于至少两个地理位置上，用于测量出所述至少两个磁信号。

6.根据权利要求1或2所述的测量方位角的装置，其特征在于，还包括：

信息存储单元，与所述微控制器相连，用于存储所述A/D采样数据；

所述微控制器，还用于将所述A/D采样数据发送到所述信息存储单元中进行存储。

7.一种测量方位角的方法，其特征在于，包括：

测量同一方向上至少两个地理位置上的磁信号；

用所述至少两个磁信号的差值对所述至少两个磁信号中的任一个磁信号进行校准；

利用校准后的磁信号计算方位角。

8.根据权利要求7所述的测量方位角的方法，其特征在于，还包括：

测量下倾角；

所述用所述至少两个磁信号的差值对所述至少两个磁信号中的任一个磁信号进行校准之前，还包括：所述利用所述下倾角对所述至少两个磁信号进行下倾角补偿。