[发明专利]超光谱成像仪谱面装调装置

说明书

技术领域

本发明涉及光学成像系统中超光谱成像仪、高光谱仪、光谱仪精密机械结构的领域，具体涉及超光谱成像仪的谱面或焦面装调装置。

背景技术

目前，现有CCD成像系统的装调装置是将CCD焦面直接进行成像调整，调整过程既费时又费力。或者使用平板磨砂玻璃观察超光谱成像仪像面位置，但这种方法不能使CCD感光位置沿子午、弧矢方向进行准确的定位，也不能准确测定沿焦面焦深方向的位置。因此，同样不能使用显微镜准确标定光谱仪谱面或沿焦面的位置，无法实现快速、准确地对CCD焦面组件进行位置调整。因此，设计一套能够准确标定和测量超光谱成像仪谱面或焦面的装置是目前亟待解决的问题。

发明内容

本发明为解决现有CCD成像系统的装调装置对CCD焦面直接进行成像调整，调整过程复杂，并且不能准确测量超光谱成像仪像面位置的问题，提供一种超光谱成像仪谱面装调装置。

超光谱成像仪谱面装调装置，该装置包括基板、分划板组件和定位销；所述分划板组件包括分划板座、定位框、分划板、定位框螺钉、分划板弹性压板、分划板座调整垫和分划板座固定螺钉，所述基板与分划板座之间设置分划板座调整垫，所述基板与分划板座通过定位销进行定位；所述分划板座与定位框通过定位框螺钉固定，定位框内依次设置分划板弹性压板和分划板；所述分划板组件通过分划板固定螺钉与基板固定。

本发明的工作原理：本发明所述的超光谱成像仪谱面装调装置中的亮背景分划板刻线面的位置等效于CCD焦面组件的CCD感光面的位置，通过基板定位后的空间位置与CCD感光面重合，在调整超光谱成像仪时，安装在CCD焦面的位置临时替代CCD焦面组件进行光学系统的调试，通过使用30倍读数显微镜观察超光谱成像仪投射到分划板上的谱线倾角、离焦量等位置信息，判读与分划板刻线对应位置进行对比、分析、判断。确定前后离焦量值及焦面重合立体角后，通过修磨CCD焦面组件调整垫使谱线展开面与分划板刻线面重合。将CCD焦面组件与修磨后的CCD焦面组件调整垫配合安装替换掉CCD焦面的特征谱线判读装置后，通过CCD加电，成像，再精调CCD焦面位置。此装置使用方便，避免盲目调整光学系统，减少CCD焦面组件装调过程中的频繁操作，提高产品可靠性，提高产品装调质量。

本发明的有益效果：本发明提出了一种装调装置，采用本发明所述的装调装置调整超光谱成像仪的谱面或相机焦面，其装调过程、直观的判断谱面或焦面的调偏情况，可以方便装调过程，避免盲目调整如直接频繁使用CCD焦面组件侦测焦面位置装调极易损坏其中的CCD。由于CCD是CCD焦面组件电子学系统中易遭静电侵袭之器件，所以频繁装、拆CCD焦面组件容易造成CCD(8)损坏。将本发明所述的装置使用定位块与CCD焦面组件互换后，可最终将CCD焦面的准确位置与光学系统的谱面或焦面重合。

附图说明

图1为本发明所述的超光谱成像仪谱面装调装置主视图；

图2为本发明所述的超光谱成像仪谱面装调装置侧视图；

图3为本发明所述的超光谱成像仪谱面装调装置俯视图；

图4为本发明所述的超光谱成像仪谱面装调装置仰视图；

图5为本发明所述的超光谱成像仪谱面装调装置轴侧视图；

图6为本发明所述的超光谱成像仪谱面装调装置中CCD焦面组件的原理图。

图中：1、基板，2、分划板座，3、定位框，4、分划板，5、定位框螺钉，6、CCD焦面组件调整垫，7、定位销，8、定位块螺钉，9、分划板弹性压板，10、定位块，11、分划板座调整垫，12、分划板座固定螺钉，13、基板固定螺钉，14、CCD焦面组件，15、CCD。

具体实施方式

具体实施方式一、结合图1至图6说明本实施方式，超光谱成像仪谱面装调装置，该装置包括基板1、分划板组件和定位销7，所述分划板组件包括分划板座2、定位框3、分划板4、定位框螺钉5、分划板弹性压板9、分划板座调整垫11和分划板座固定螺钉12，所述基板1与分划板座2之间设置分划板座调整垫11，所述基板1与分划板座2通过定位销7进行定位；所述分划板座2与定位框3通过定位框螺钉5固定，定位框3内依次设置分划板弹性压板9和分划板4；所述分划板组件通过分划板固定螺钉12与基板1固定。

具体实施方式二、结合图6说明本实施方式，本实施方式为具体实施方式一所述的超光谱成像仪谱面装调装置在装调过程中的应用：