[发明专利]一种基于SVD的超分辨率重建图像质量评价方法有效

专利信息
申请号: 201110259362.9 申请日: 2011-09-02
公开(公告)号: CN102436655A 公开(公告)日: 2012-05-02
发明(设计)人: 黄慧娟;孙卫东 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 西安智大知识产权代理事务所 61215 代理人: 贾玉健
地址: 100084 北京市海淀区1*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 svd 分辨率 重建 图像 质量 评价 方法
【权利要求书】:

1.一种基于SVD的超分辨率重建图像质量评价方法,其特征在于,包括以下步骤:

第一步,对两幅以上的LR图像进行配准以及SR重建得到SR图像;

第二步,分别对SR图像和配准后的LR图像进行计算,得到各自的灰度图、去均值图像和梯度图像;

第三步,基于SVD计算各图像间的子评价结果,即计算出SR图像与配准后的LR图像的灰度图的ILSg、去均值图像的ILSm和梯度图的ILSt,以及配准后的LR图像的灰度图的ILLg、去均值图像的ILLm和梯度图的ILLt,在计算时首先将各图像分割为8×8的图像块,先在局部范围内对图像质量进行评价,然后再综合形成一个全局的评价值,而且为了保证块与块之间的连续性,各图像块之间有3个像素的重叠区;

第四步,将各子评价结果线性合成最终的SR图像质量评价结果SSQI,它是采用对应图像块奇异值差别来度量它们之间的信息差别。

2.根据权利要求1所述的一种基于SVD的超分辨率重建图像质量评价方法,其特征在于:所述的灰度图的ILSg、去均值图像的ILSm和梯度图的ILSt分别从亮度、对比度、边缘及纹理三个方面来度量LR图像和SR图像的关系,三者的定义如下:

ILS=ΣwWη(w)[α(L1|w)Q(L1,H|w)+α(L2|w)Q(L2,H|w)+···+α(Lp|w)Q(Lp,H|w)]---(2)]]>

其中,

Q(Lk,H|w)=Σi=2n(siLk-siH)2|wmax1kpΣi=1n(siLk-siH)2|w]]>

α(Lk|w)=λ(Lk|w)max1kpλ(Lk|w)]]>

η(w)=max1kpλ(Lk|w)ΣwWmax1kpλ(Lk|w)]]>

λ(Lk|w)=max(siLk|w)max(siLk|w)|2nd]]>

Lk,k=1,2,…,p代表LR图像,H代表SR图像,w为图像块,W为图像块的集合,Q(Lk,H|w)在局部图像块范围内用奇异值的差别来衡量图像间的信息差别,分别是Lk图像和H图像中对应图像块的奇异值,n为奇异值的个数,α为w内不同的LR图像对评价结果ILS影响的权系数,η为不同的w对ILS影响的权系数,在计算时,将原LR图像放大至与SR图像同样的大小,由于放大图像完全由原图得到,所以这样并不影响图像的质量。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110259362.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top