[发明专利]芯片音频模块测试系统和测试方法有效

申请号：	201110257152.6	申请日：	2011-09-01
公开（公告）号：	CN102967817A	公开（公告）日：	2013-03-13
发明（设计）人：	黄杰成;葛保建;胡胜发	申请（专利权）人：	安凯（广州）微电子技术有限公司
主分类号：	G01R31/28	分类号：	G01R31/28
代理公司：	北京集佳知识产权代理有限公司 11227	代理人：	李赞坚;曹志霞
地址：	510663 广东省广州市萝岗区***	国省代码：	广东;44
权利要求书：	查看更多	说明书：	查看更多
摘要：
搜索关键词：	芯片音频模块测试系统方法
钻瓜网技术展会专利词库专利权人专利榜在售专利公布日期热门专利

【权利要求书】：

1.一种芯片音频模块测试系统，芯片包括中央处理单元、ADC模块及与DAC模块，其特征在于，ADC模块与DAC模块之间通过一外部电路连接，其中：DAC模块用于播放标准音频信号，得到DAC播放信号；ADC模块用于采集DAC播放信号，得到ADC采集数据；中央处理单元用于根据预设策略计算ADC采集数据的性能指标，并与相应标准值进行比较，分析芯片音频模块是否合格。

2.如权利要求1所述的芯片音频模块测试系统，其特征在于，包括存储器，用于写入ADC采集数据，供中央处理单元进行处理。

3.如权利要求2所述的芯片音频模块测试系统，其特征在于，存储器存储有预先制作的标准音频信号。

4.如权利要求3所述的芯片音频模块测试系统，其特征在于，标准音频信号为正弦波信号。

5.如权利要求4所述的芯片音频模块测试系统，其特征在于，正弦波信号的频率为1～3KHZ。

6.如权利要求1～5所述的芯片音频模块测试系统，其特征在于，外部电路为耦合电路。

7.如权利要求6所述的芯片音频模块测试系统，其特征在于，耦合电路包括一耦合电容。

8.一种芯片音频模块测试方法，其特征在于，包括：

DAC模块播放标准音频信号，得到DAC播放信号；

ADC模块采集DAC播放信号，得到ADC采集数据；

中央处理单元根据预设策略计算ADC采集数据的性能指标，并与相应标准值进行比较，分析芯片音频模块是否合格。

9.如权利要求8所述的芯片音频模块测试方法，其特征在于，预先存储正弦波信号作为标准音频信号。

10.如权利要求9所述的芯片音频模块测试方法，其特征在于，采用频率为1～3KHZ正弦波信号作为标准音频信号。