[发明专利]基于漏磁场双分量的阵列型铁磁构件表面缺陷探测器有效

专利信息
申请号: 201110255366.X 申请日: 2011-08-31
公开(公告)号: CN102435668A 公开(公告)日: 2012-05-02
发明(设计)人: 廖昌荣;韩亮;汪滨波 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G01N27/83 分类号: G01N27/83
代理公司: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 代理人: 谢殿武
地址: 400044 *** 国省代码: 重庆;85
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摘要:
搜索关键词: 基于 磁场 分量 阵列 型铁磁 构件 表面 缺陷 探测器
【权利要求书】:

1.基于漏磁场双分量的阵列型铁磁构件表面缺陷探测器,其特征在于:包括

差分阵列式漏磁探头,包括由法向分量检测霍尔传感器组和切向分量检测霍尔传感器组,法向分量检测霍尔传感器组和切向分量检测霍尔传感器组分别用于检测漏磁场的法向分量电压信号和切向分量电压信号;

信号调理电路,用以对差分阵列式漏磁探头检测到的电压信号进行调理后输出到数据采集与处理单元;

数据采集与处理单元,通过对信号调理电路输出的电压信号进行分析,判断铁磁构件表面是否存在缺陷。

2.根据权利要求1所述的基于漏磁场双分量的阵列型铁磁构件表面缺陷探测器,其特征在于:所述差分阵列式漏磁探头还包括电路板,电路板上交错设置多列法向分量检测霍尔传感器组和切向分量检测霍尔传感器组。

3.根据权利要求2所述的基于漏磁场双分量的阵列型铁磁构件表面缺陷探测器,其特征在于:每一个法向分量检测霍尔传感器组包括两个对称的分别安装在电路板上、下表面的霍尔传感器。

4.根据权利要求2所述的基于漏磁场双分量的阵列型铁磁构件表面缺陷探测器,其特征在于:每一个切向分量检测霍尔传感器组包括两个对称并列设置于电路板上表面的霍尔传感器。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的基于漏磁场双分量的阵列型铁磁构件表面缺陷探测器,其特征在于:所述基于漏磁场双分量的阵列型铁磁构件表面缺陷探测器还包括位移检测单元,所述位移检测单元用以检测差分阵列式漏磁探头的位移信号,经信号调理电路处理后,输入数据采集与处理单元,数据采集与处理单元将调理后的位移信号与电压信号进行关联,以判断各组电压信号的采集位置。

6.根据权利要求5所述的基于漏磁场双分量的阵列型铁磁构件表面缺陷探测器,其特征在于:所述信号调理电路包括

滤波器,用以滤除电压信号中的高频噪声;

差分运算放大器,用以对法向分量检测霍尔传感器组和切向分量检测霍尔传感器组输出的两路电压信号做减运算,获得差模信号,并对差模信号进行放大后输出到数据采集与处理单元。

7.根据权利要求6所述的基于漏磁场双分量的阵列型铁磁构件表面缺陷探测器,其特征在于:在差分阵列式漏磁探头的电路板两端分别对称的设置有大小及磁性相同、极性朝向相反的永磁体。

8.根据权利要求7所述的基于漏磁场双分量的阵列型铁磁构件表面缺陷探测器,其特征在于:还包括报警单元,根据数据采集与处理单元的判断结果,当铁磁构件表面存在缺陷时进行报警。

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