[发明专利]一种在OTDR设计中基于移相技术提高事件距离精度的方法

说明书

技术领域

本发明涉及光纤测试领域，更具体的说，是一种在OTDR设计中基于移相技术提高事件距离精度的方法及装置。

背景技术

随着光纤通信应用的越来越广泛，对光纤的测试工作的要求的不断提高。事件距离测试作为测试工作的一个重要方面，其精度的要求也不断提高。在OTDR测试中，事件距离的精度取决于A/D采样的频率。OTDR测试是通过发射光脉冲到待测光纤内，当光脉冲在光纤内传输时，会由于光纤本身的性质、连接器、弯曲或其它类似的事件而产生散射、反射。其中一部分的散射和反射返回到OTDR中，把返回到OTDR中的光能量与时间精确对应，连接成一条曲线就得到待测光纤的OTDR曲线。其中事件的距离由公式：

 d=(c×t)/2(IOR) 

在这个公式里，c是光在真空中的速度，而t是信号发射后到接收到信号（双程）的总时间（两值相乘除以2后就是单程的距离）。因为光在玻璃中要比在真空中的速度慢，所以为了精确地测量距离，被测的光纤必须要指明折射率（IOR）。IOR是由光纤生产商来标明。其中时间t是A/D采样周期的整数倍。因此提高事件距离的精度就必须缩短A/D采样周期，即提高A/D的采样频率。但是A/D采样频率的是提高，同时也带来PCB布板要求的提高，增加了电路设计难度，也提高了设备成本。 

 

发明内容

本发明的目的是为克服现有技术的不足，而提供一种在OTDR设计中基于移相技术提高事件距离精度的方法及装置，该方法具有减少设备成本低，降低电路设计难度，提高事件距离精度等特点。

实现本发明目的的技术方案是：

一种在OTDR设计中基于移相技术提高事件距离精度的方法，是一种在A/D采样频率一定的情况下，通过时钟移相技术提高事件距离精度的方法，该方法包括如下步骤：

（1）在OTDR设计中增设一个时钟移相装置与原始时钟连接，该装置包括时钟移相模块、光脉冲产生模块、光脉冲选择模块和存储控制模块；

（2）待测光纤经原始时钟输入到时钟移相模块中；

（3）时钟移相模块根据二相位移相、四相位移相或八相位移相分别产生0相位与180相位的两个时钟，或产生0相位、90相位、180相位与270相位的四个时钟，或产生0相位、45相位、90相位、135相位、180相位、225相位、270相位与315相位的八个时钟的相位差，输出到相对应的光脉冲产生模块；

（4）光脉冲产生模块产生相应的时延相位差的光脉冲信号到光脉冲选择模块；

（5）光脉冲选择模块对光脉冲模块产生的时延相位差的光脉冲信号进行交替选择后，输出到存储控制模块；

（6）存储控制模块根据光脉冲选择模块输出的时延的光脉冲信号进行存储控制，存储器中连接地址中的采样点的间隔距离就相当于事件距离精度。

用于实现在OTDR设计中基于移相技术提高事件距离精度方法的装置包括时钟移相装置，该装置包括时钟移相模块、光脉冲产生模块、光脉冲选择模块和存储控制模块，原始时钟输入与时钟移相模块连接，时钟移相模块与光脉冲产生模块连接，光脉冲产生模块与光脉冲选择模块连接，光脉冲选择模块与存储器控制模块连接。

所述的时钟移相模块二相位输出时，光脉冲产生模块为两块；四相位输出时，光脉冲产生模块为四块；八相位输出时，光脉冲产生模块为八块。

所述的时钟移相模块二相位输出为0相位和180相位；

四相位输出为0相位、90相位、180相位、270相位；

八相位输出为0相位、45相位、90相位、135相位、180相位、225相位、270相位、315相位输出。

本发明的优点是：在A/D采样频率不变的情况下，不仅能有效提高事件距离的精度；还具有减少设备，成本低，降低电路设计难度等特点。

附图说明

图1为本发明实施例1二相位移相结构示意图；

图2为本发明实施例2四相位移相结构示意图；

图3为本发明实施例3八相位移相结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的阐述。

实施例1：二相位移相