[发明专利]平衡电阻测试装置有效
| 申请号: | 201110254648.8 | 申请日: | 2011-08-31 |
| 公开(公告)号: | CN102955071A | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
| 发明(设计)人: | 杨富森;白云;童松林 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R27/08 | 分类号: | G01R27/08 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 平衡 电阻 测试 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种平衡电阻测试装置,尤其涉及一种串联超级电容平衡电阻测试装置。
背景技术
串联超级电容一般由两个或多个超级电容串联而成,由于各个超级电容的内阻存在着一定差异,所以各个超级电容上的电压会存在着差异,这种电压的差异会对超级电容产生一定的损伤。
为了避免上述情况的发生,一般会在每个超级电容上并联一个平衡电阻,利用平衡电阻和超级电容的并联来减少各个超级电容上电压的差异,从而保证各个超级电容上的电压趋于相等。在选择平衡电阻的阻值时,一般是先将平衡电阻对应并联至各个超级电容上,再测各个超级电容上的电压,若各个超级电容上的电压存在差异,则更换不同阻值的平衡电阻进行测试,直到各个超级电容上的电压相等。
然而,上述方法由于多次更换平衡电阻,增加了测试人员的测试时间,不仅降低了工作效率还容易造成超级电容的损坏。
发明内容
针对上述问题,有必要提供一种平衡电阻测试装置,所述平衡电阻测试装置能方便测出串联超级电容的适当的平衡电阻阻值。
一种平衡电阻测试装置,用于测出一串联超级电容的每一个超级电容的平衡电阻阻值,所述平衡电阻测试装置包括:
控制器,电性连接至所述串联超级电容,用于检测所述串联超级电容的每一个超级电容上的电压;
充电电路,电性连接至所述控制器及串联超级电容,所述充电电路用于在控制器的控制下对所述串联超级电容进行充电;
放电电路,电性连接至所述控制器及串联超级电容,所述放电电路用于在控制器的控制下对所述串联超级电容进行放电;
数字电位器,电性连接至所述控制器,所述数字电位器包括与所述超级电容数量相当的可调节电阻,每一个可调节电阻对应并联至其中一个超级电容的两端;所述控制器控制所述数字电位器不断调节每一个可调节电阻并联到对应的超级电容两端的有效阻值,直到所述控制器检测到每一个超级电容上的电压值相等或者各个所述超级电容上的电压值之间的差值在规定的误差范围内。
所述的串联超级电容通过控制器来控制所述数字电位器来相应调节接入每一个超级电容上的可调节电阻的阻值,直到每一个超级电容上的电压值相等或者其电压值的差值在规定的误差范围内,此时所述可调节电阻的有效阻值即为其对应的超级电容的平衡电阻的阻值。因此,所述串联超级电容可通过控制器来自动调节可调电阻的阻值,可方便测出串联超级电容的适当的平衡电阻阻值,有效提高了测试效率。
附图说明
图1为本发明较佳实施方式的平衡电阻测试装置的模块图。
图2为图1所示平衡电阻测试装置的控制器、充电电路以及放电电路与被测的串联超级电容之间的电路连接图。
图3为图1所示平衡电阻测试装置的数字电位器与被测的串联超级电容之间的电路连接图。
图4为图3所示数字电位器与被测的串联超级电容之间连接的等效电路图。
主要元件符号说明
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司,未经鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110254648.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:光纤耦合连接器
- 下一篇:制备SiC涂层的方法





